[发明专利]一种叶片形状快速扫描装置及方法有效
| 申请号： | 201611116600.X | 申请日： | 2016-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN106643551B | 公开（公告）日： | 2019-07-30 |
| 发明（设计）人： | 高晓飞;许畅达;李东;孟强;李泉;刘涛;马力 | 申请（专利权）人： | 苏州笛卡测试技术有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 | 代理人： | 汤东凤 |
| 地址： | 215500 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种叶片形状快速扫描装置及方法，所述装置包括基座、X主轴、Y主轴、Z主轴、转台、非接触式光学测头和接触式测头；所述X、Y、Z主轴及转台安装在基座上；其中，X、Y、Z主轴用于带动测头在空间X、Y、Z三个方向自由移动；转台用于带动叶片在测量空间内转动；非接触式光学测头和接触式测头通过连接件共同安装在Y主轴上；非接触式光学测头用来对于叶片表面进行低精度测量，获取叶片全部的点云数据并对其进行测量路径规划；接触式测头用来沿规划好的测量路径对叶片表面进行高精度测量。 | ||
| 搜索关键词： | 接触式测头 非接触式 光学测头 转台 快速扫描装置 叶片表面 叶片形状 叶片 测量路径规划 高精度测量 测量空间 测量路径 点云数据 精度测量 连接件 测头 转动 规划 | ||
【主权项】：
1.一种叶片形状快速扫描装置，其特征在于：包括基座、X主轴、Y主轴、Z主轴、转台、非接触式光学测头和接触式测头；所述X、Y、Z主轴及转台安装在基座上；其中，X、Y、Z主轴用于带动测头在空间X、Y、Z三个方向自由移动；转台用于带动叶片在测量空间内转动；非接触式光学测头和接触式测头通过连接件共同安装在Y主轴上；非接触式光学测头用来对于叶片表面进行低精度测量，获取叶片全部的点云数据并对其进行测量路径规划；接触式测头用来沿规划好的测量路径对叶片表面进行高精度测量；所用接触式测头为可沿固定轴旋转的多轴测头；利用非接触式激光位移传感器对于叶片进行快速扫描，得到叶片表面的三维点云，作为路径规划时的参考数据；利用非接触式激光位移传感器对叶片进行快速低精度扫描，其测量精度为100μm‑1㎜；利用接触式测量系统对叶片进行进一步高精度扫描，其测量精度为1μm‑20μm；点云数据经过点云降噪、滤波、简化后处理后，模型数据中每一点求取法矢量方向，进而获得接触式测头在测量过程中沿旋转轴的旋转角度，结合接触式测头的工作距离约束条件，生成测头在坐标机下的运动路径和空间姿态；最后依照上述规划好的轨迹和姿态。
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