[发明专利]光扫描装置以及光扫描方法有效
申请号: | 201611125474.4 | 申请日: | 2016-12-08 |
公开(公告)号: | CN106918904B | 公开(公告)日: | 2019-02-15 |
发明(设计)人: | 上野末男 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝;东芝泰格有限公司 |
主分类号: | G02B26/10 | 分类号: | G02B26/10;G03G15/043 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 田喜庆;吴孟秋 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明公开了在使用多个激光的情况下能够抑制有效图像区域变窄的光扫描装置以及光扫描方法。实施方式的光扫描装置包括光源、MEMS反射镜、MEMS反射镜驱动部、控制部以及传感器。光源照射对感光鼓进行扫描的多个激光。MEMS反射镜包括将从所述光源照射的多个所述激光进行反射的反射面。MEMS反射镜驱动部使所述MEMS反射镜往复动作。传感器通过检测到所述MEMS反射镜到达规定位置时被所述反射面反射的激光,将水平同步信号供给至所述控制部。控制部在所述扫描后在检测到来自所述传感器的所述水平同步信号之后,对多个所述激光中的至少一个激光的光量进行自动功率控制。 | ||
搜索关键词: | 扫描 装置 以及 方法 | ||
【主权项】:
1.一种光扫描装置,其特征在于,包括:光源,照射对感光鼓进行扫描的多个激光;微机电系统反射镜,包括将从所述光源照射的多个所述激光进行反射的反射面;微机电系统反射镜驱动部,使所述微机电系统反射镜往复动作;控制部,进行将从所述光源照射的多个所述激光各自的光量控制为规定值的自动功率控制;以及传感器,通过检测所述微机电系统反射镜到达规定位置时被所述反射面反射的激光,并将水平同步信号供给所述控制部,所述控制部在所述扫描后在检测出来自所述传感器的所述水平同步信号之后,对多个所述激光中的至少一个激光的光量进行自动功率控制,所述控制部从检测到所述水平同步信号开始直到微机电系统反射镜从一方向向另一方向折返而再次检测到所述水平同步信号为止,对所述一个激光的光量进行自动功率控制。
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