[发明专利]基于分频方式的相位差精确测量系统及测量方法有效

专利信息
申请号: 201611126769.3 申请日: 2016-12-09
公开(公告)号: CN106841779B 公开(公告)日: 2023-03-28
发明(设计)人: 高贻钧;后德家;陈建军 申请(专利权)人: 华中农业大学
主分类号: G01R25/00 分类号: G01R25/00
代理公司: 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 代理人: 李满;涂洁
地址: 430070 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明涉及一种基于分频方式的相位差精确测量系统,第一放大整形器和第二放大整形器的信号输入端分别连接信号接口JI和J2,两个放大整形器的信号输出端连接分频鉴相器,分频鉴相器的周期脉宽信号输出端连接选通控制器的第一输入端,分频鉴相器的相差脉宽信号输出端连接选通控制器的第二输入端,分频鉴相器输出端连接积分变换器输入端,积分变换器输出端连接微处理器的内部模数转换器的信号输入端,微处理器的选通控制信号输出端连接选通控制器的控制信号输入端。本发明能够精确测量信号相位差。
搜索关键词: 基于 分频 方式 相位差 精确 测量 系统 测量方法
【主权项】:
一种基于分频方式的相位差精确测量系统,其特征在于:它包括第一放大整形器(1)、第二放大整形器(2)、分频鉴相器(3)、选通控制器(4)、积分变换器(5)和微处理器(6),其中,所述选通控制器(4)包括二通道模拟开关K1、二通道模拟开关K2和二通道模拟开关K3,第一放大整形器(1)和第二放大整形器(2)的信号输入端分别连接频率相同且相差恒定的第一被测信号接口JI和第二被测信号接口J2,第一放大整形器(1)的信号输出端连接分频鉴相器(3)的第一信号输入端,第二放大整形器(2)的信号输出端连接分频鉴相器(3)的第二信号输入端,分频鉴相器(3)的周期脉宽信号输出端连接选通控制器(4)的二通道模拟开关K1的第一输入接线端,分频鉴相器(3)的相差脉宽信号输出端连接选通控制器(4)的二通道模拟开关K1的第二输入接线端,二通道模拟开关K1的输出接线端连接二通道模拟开关K2的第二输入接线端,二通道模拟开关K2的第一输入接线端接空,二通道模拟开关K2的输出接线端连接积分变换器(5)的信号输入端,积分变换器(5)的模拟电压输出端连接微处理器(6)的内部模数转换器的信号输入端,积分变换器(5)的模拟电压输出端还连接选通控制器(4)的二通道模拟开关K3的输入接线端,二通道模拟开关K3的第一输出接线端接空,二通道模拟开关K3的第二输出接线端接地,微处理器(6)的第一选通控制信号输出端连接二通道模拟开关K1的控制端,微处理器(6)的第二选通控制信号输出端连接二通道模拟开关K2的控制端,微处理器(6)的放电控制信号输出端连接二通道模拟开关K3的控制端。
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