[发明专利]确定扫描时延的方法和装置、造影剂诊断扫描方法和装置在审
| 申请号： | 201611128625.1 | 申请日： | 2016-12-09 |
| 公开（公告）号： | CN108606806A | 公开（公告）日： | 2018-10-02 |
| 发明（设计）人： | 孙宇虹 | 申请（专利权）人： | 上海西门子医疗器械有限公司 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 201318 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种确定扫描时延的方法和装置、造影剂诊断扫描方法和装置。根据本发明的第一方面，提供一种确定对应于一受检对象的扫描时延的方法，所述扫描时延是造影剂注射的开始时间与扫描的开始时间之间的时差，所述方法包括：存储一时延模型，所述模型表达扫描时延与复数个参数的关系；获取对应于所述受检对象的所述复数个参数的值；根据所述时延模型和所述复数个参数的值，确定对应于所述受检对象的扫描时延。本发明能降低受检对象受到的辐射并获得更高质量的图像。 | ||
| 搜索关键词： | 扫描时延 方法和装置 受检对象 复数 诊断扫描 造影剂 造影剂注射 模型表达 时延 时差 存储 扫描 图像 辐射 | ||
【主权项】：
1.一种确定对应于一受检对象的扫描时延的方法，所述扫描时延是造影剂注射的开始时间与扫描的开始时间之间的时差，所述方法包括：存储一时延模型，所述模型表达扫描时延与复数个参数的关系；获取对应于所述受检对象的所述复数个参数的值；根据所述时延模型和所述复数个参数的值，确定对应于所述受检对象的扫描时延。
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