[发明专利]一种多层光学薄膜光谱热辐射率的计算方法有效
| 申请号： | 201611128964.X | 申请日： | 2016-12-09 |
| 公开（公告）号： | CN106644087B | 公开（公告）日： | 2020-05-05 |
| 发明（设计）人： | 刘华松;刘丹丹;杨霄;姜承慧;陈丹;季一勤 | 申请（专利权）人： | 天津津航技术物理研究所 |
| 主分类号： | G01J5/00 | 分类号： | G01J5/00 |
| 代理公司： | 中国兵器工业集团公司专利中心 11011 | 代理人： | 刘东升 |
| 地址： | 300308 天津市*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明属于光谱热辐射率表征领域，具体涉及一种多层光学薄膜光谱热辐射率的计算方法。本发明提供的计算方法具有简单可操作性，对于确定的多层薄膜‑基底‑多层薄膜系统结构，仅需确定基底与薄膜材料的热光系数，就能够完整表达光学多层膜的光谱定向辐射率、定向辐射率、光谱辐射率和积分空间辐射率。采用本方法能够避免直接测量的繁琐和测量仪器的复杂结构设计，具有一定的科学与应用价值。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 多层 光学薄膜 光谱 热辐射 计算方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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