[发明专利]一种基于信号偏置和超导氮化铌测辐射热计的检测器在审

专利信息
申请号: 201611129045.4 申请日: 2016-12-09
公开(公告)号: CN106595878A 公开(公告)日: 2017-04-26
发明(设计)人: 姜寿禄;陈健;李先峰;贾小氢;康琳;金飚兵;许伟伟;吴培亨 申请(专利权)人: 南京大学
主分类号: G01J5/20 分类号: G01J5/20
代理公司: 江苏银创律师事务所32242 代理人: 孙计良
地址: 210001 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种基于信号偏置和超导氮化铌测辐射热计的检测器,包括低温杜瓦、超导氮化铌测辐射热计芯片、聚焦透镜、偏置器、直流电源、环形器、偏置信号发生器和信号放大器。低温杜瓦设有透明窗。超导氮化铌测辐射热计芯片设置于低温杜瓦内。聚焦透镜用于将进入低温杜瓦内的太赫兹波聚焦于超导氮化铌测辐射热计芯片上。偏置器为T型偏置器,其射频直流端口、直流偏置端口和射频输出端口分别连接超导氮化铌测辐射热计芯片、直流电源和环形器。环形器为三端口环形器。环形器的三个端口分别连接偏置信号发生器、偏置器和信号放大器的输入端口。信号放大器的输出端口连接信号检测接口。
搜索关键词: 一种 基于 信号 偏置 超导 氮化 辐射热 检测器
【主权项】:
一种基于信号偏置和超导氮化铌测辐射热计的检测器,其特征在于,包括低温杜瓦、超导氮化铌测辐射热计芯片、聚焦透镜、偏置器、直流电源、环形器、偏置信号发生器和信号放大器;所述低温杜瓦设有透明窗,使得光波或电磁波能够通过所述透明窗进入所述低温杜瓦的内部;所述超导氮化铌测辐射热计芯片设置于低温杜瓦内;所述聚焦透镜用于将进入所述低温杜瓦内的太赫兹波聚焦于所述超导氮化铌测辐射热计芯片上;所述偏置器为T型偏置器;所述偏置器的射频直流端口连接所述超导氮化铌测辐射热计芯片;所述偏置器的直流偏置端口连接所述直流电源;所述偏置器的射频输出端口连接所述环形器;所述环形器为三端口环形器;所述环形器的三个端口分别为第一端口、第二端口和第三端口,并且信号只能按第一端口至第二端口至第三端口至第一端口进行单向传输;所述环形器的第一端口连接所述偏置信号发生器;所述环形器的第二端口连接所述偏置器的射频输出端口;所述环形器的第三端口连接所述信号放大器的输入端口;所述信号放大器的输出端口连接信号检测接口;所述偏置信号发生器用于生成注入的微波信号;所述检测接口用于连接信号分析仪;所述信号放大器用于放大从所述超导氮化铌测辐射热计芯片反射回来的微弱微波信号。
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