[发明专利]一种可用于拉伸试样标距及测量的装置有效

专利信息
申请号: 201611129500.0 申请日: 2016-12-09
公开(公告)号: CN106706385B 公开(公告)日: 2020-06-05
发明(设计)人: 尹博;李丹丹;程子轩;马超;方堃;郭占军;崔海娣;唐博雅 申请(专利权)人: 航天科工哈尔滨风华有限公司
主分类号: G01N1/28 分类号: G01N1/28;G01N3/06
代理公司: 哈尔滨市伟晨专利代理事务所(普通合伙) 23209 代理人: 李晓敏
地址: 150036 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 一种可用于拉伸试样标距及测量的装置,属于拉伸试验技术领域,本发明为了解决拉伸试验的标距及断后测量不能实现机械化、手动测量精度低的问题。固定支架固定在底座上,滑轨固定在固定支架的内壁上,滑动支架安装在底座上的同时套装在滑轨上,蜗杆通过蜗杆固定盖安装在滑动支架上,齿条固定在滑轨的侧壁上,蜗杆与齿条啮合;游标卡尺座安装在滑轨上,游标卡尺安装在游标卡尺座上;两个试样固定件穿设在固定支架和滑动支架上,试样固定件的装夹端位于固定支架与滑动支架的内侧,试样固定件的螺纹端位于固定支架与滑动支架的外侧。本发明的一种可用于拉伸试样标距及测量的装置能对拉伸试样进行标距及断后的测量。
搜索关键词: 一种 用于 拉伸 试样 测量 装置
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