[发明专利]二次设备的虚回路的测试方法和装置在审

专利信息
申请号: 201611141361.3 申请日: 2016-12-12
公开(公告)号: CN106841842A 公开(公告)日: 2017-06-13
发明(设计)人: 肖永立;孙军;张伟程;蔡庆;郑同伟;郑正;范金龙;段文洁;刘少波;钱志国;任建军;见伟 申请(专利权)人: 国网北京市电力公司;国家电网公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司11240 代理人: 江舟,董文倩
地址: 100031 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种二次设备的虚回路的测试方法和装置。其中,该方法包括获取智能变电站的全站配置文件;从配置文件中获取智能变电站中待测试的多个二测设备和通讯关系,其中,通讯关系用于描述多个二次设备通过多个虚回路进行的信息传输关系;在软件中按照通讯关系对多个二次设备的多个虚回路进行测试。本发明解决了相关技术中对智能变电站中虚回路的测试效率较低的技术问题。
搜索关键词: 二次 设备 回路 测试 方法 装置
【主权项】:
一种二次设备的虚回路的测试方法,其特征在于,包括:获取智能变电站的全站配置文件;从所述配置文件中获取所述智能变电站中待测试的多个二测设备和通讯关系,其中,所述通讯关系用于描述多个所述二次设备通过多个虚回路进行的信息传输关系;在软件中按照所述通讯关系对多个所述二次设备的多个所述虚回路进行测试。
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