[发明专利]嵌入式HKMG非易失性存储器在审
申请号: | 201611142477.9 | 申请日: | 2016-12-12 |
公开(公告)号: | CN107039421A | 公开(公告)日: | 2017-08-11 |
发明(设计)人: | 吴伟成;邓立峰 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/02 | 分类号: | H01L27/02;H01L27/115;H01L21/8239 |
代理公司: | 北京德恒律治知识产权代理有限公司11409 | 代理人: | 章社杲,李伟 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明的实施例涉及一种包括高k金属栅极(HKMG)非易失性存储(NVM)器件并且提供小尺寸和高性能的集成电路(IC)、以及形成的方法。在一些实施例中,该集成电路包括逻辑区和嵌入式存储区,其中逻辑区具有设置在衬底上方的逻辑器件并且包括设置在第一高k栅极介电层上方的第一金属栅极,嵌入式存储区邻近逻辑区设置。嵌入式存储区具有包括选择栅极和控制栅极的分离栅极闪速存储单元。控制栅极或选择栅极是通过第二高k栅极介电层与衬底分隔开的金属栅极。通过在逻辑区和存储区中具有HKMG结构,提高了IC性能并且在新兴技术节点中的进一步缩小成为可能。本发明的实施例还涉及嵌入式HKMG非易失性存储器。 | ||
搜索关键词: | 嵌入式 hkmg 非易失性存储器 | ||
【主权项】:
一种集成电路(IC),包括:逻辑区,包括设置在衬底上方的逻辑器件并且包括设置在第一高k栅极介电层上方的第一金属栅极;以及嵌入式存储区,邻近所述逻辑区设置并且包括非易失性存储(NVM)器件,所述非易失性存储器件包括设置在所述衬底上方的分离栅极闪速存储单元;其中,所述分离栅极闪速存储单元包括选择栅极和控制栅极,所述选择栅极和所述控制栅极通过在所述控制栅极下方延伸的电荷捕获层分隔开;其中,所述控制栅极或所述选择栅极是通过第二高k栅极介电层与所述衬底分隔开的金属栅极。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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