[发明专利]一种无双极晶体管的高阶温度补偿带隙基准参考电路有效

专利信息
申请号: 201611151739.8 申请日: 2016-12-14
公开(公告)号: CN106774592B 公开(公告)日: 2018-02-27
发明(设计)人: 周前能;朱令;李红娟;林金朝;程飞鸿;王良才;李国权;庞宇 申请(专利权)人: 重庆邮电大学
主分类号: G05F1/567 分类号: G05F1/567
代理公司: 重庆市恒信知识产权代理有限公司50102 代理人: 刘小红
地址: 400065 重*** 国省代码: 重庆;85
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明请求保护一种无双极晶体管的高阶温度补偿带隙基准参考电路,包含前调整器电路、一阶带隙基准电路、低温区域温度分段补偿电路、高温区域温度分段补偿电路及启动电路,采用亚阈值NMOS管栅‑源电压产生的负温度系数电压VCTAT及两个亚阈值NMOS管栅‑源电压之差产生的正温度系数电压VPTAT获得一阶带隙基准电压,将低温区域温度分段补偿电压(VNL1与VNL2)及高温区域温度分段补偿电压(VNL3与VNL4)引入到一阶带隙基准电路所产生的一阶带隙基准电压中,实现了低温度系数的带隙基准电压,并采用前调整器技术提高带隙基准的电源抑制比,从而实现了一种无双极晶体管的高阶温度补偿带隙基准参考电路。
搜索关键词: 一种 双极晶体管 温度 补偿 基准 参考 电路
【主权项】:
一种无双极晶体管的高阶温度补偿带隙基准参考电路,包括一阶带隙基准电路(2),其特征在于,还包括前调整器电路(1)、低温区域温度分段补偿电路(3)、高温区域温度分段补偿电路(4)以及启动电路(5),其中,所述前调整器电路(1)的电压信号输出端分别接所述的一阶带隙基准电路(2)、低温区域温度分段补偿电路(3)、高温区域温度分段补偿电路(4)的工作电源电压输入端,所述一阶带隙基准电路(2)的信号输出端分别接所述前调整器电路(1)、低温区域温度分段补偿电路(3)以及高温区域温度分段补偿电路(4)的信号输入端,所述启动电路(5)的电压信号输入端还连接带隙基准的输出端,所述启动电路(5)的信号输出端分别接所述前调整器电路(1)、一阶带隙基准电路(2)、低温区域温度分段补偿电路(3)以及高温区域温度分段补偿电路(4)的启动信号输入端;所述启动电路(5)为所述前调整器电路(1)、一阶带隙基准电路(2)、低温区域温度分段补偿电路(3)以及高温区域温度分段补偿电路(4)提供启动信号;所述一阶带隙基准电路(2)将亚阈值区NMOS管栅‑源电压产生的负温度系数电压VCTAT以及两个工作在亚阈值区NMOS管栅‑源电压之差产生的正温度系数电压VPTAT进行加权,且在参考温度T0处获得低温度系数的一阶带隙基准电压,所述低温区域温度分段补偿电路(3)在低温区域产生两个具有温度分段特性的电压即VNL1及VNL2,其中,当温度T大于等于参考温度Tr1时VNL1=0,其中Tr1<T0,当温度T大于等于参考温度Tr2时VNL2=0,其中Tr2<Tr1<T0,所述高温区域温度分段补偿电路(4)在高温区域产生两个具有温度分段特性的电压即VNL3及VNL4,其中,当温度T小于等于参考温度Tr3时VNL3=0,其中Tr3>T0,当温度T小于等于参考温度Tr4时VNL4=0,其中Tr4>Tr3>T0,且温度分段特性电压VNL1、VNL2、VNL3及VNL4对所述一阶带隙基准电路(2)产生的一阶带隙基准电压进行高阶温度补偿,所述前调整器电路(1)用于提高带隙基准电路输出电压的电源抑制比;所述前调整器电路(1)包括:PMOS管M32、PMOS管M33、NMOS管M34、NMOS管M35、NMOS管M36、NMOS管M37、PMOS管M38以及PMOS管M39,其中PMOS管M32的源极分别与PMOS管M33的源极以及外部电源VDD相连,PMOS管M32的栅极分别与PMOS管M32的漏极、PMOS管M33的栅极、NMOS管M34的漏极以及NMOS管Ms6的漏极相连,NMOS管M34的源极分别与NMOS管M35的源极、NMOS管M36的源极、NMOS管M37的源极以及外部地线GND相连,NMOS管M34的栅极分别与NMOS管M35的栅极、NMOS管M36的栅极、NMOS管M36的漏极以及PMOS管M39的漏极相连,NMOS管M37的栅极分别与PMOS管M38的漏极以及NMOS管M35的漏极相连,NMOS管M37的漏极分别与PMOS管M33的漏极、PMOS管M38的源极、PMOS管M39的源极、PMOS管M3的源极、PMOS管M4的源极、PMOS管M5的源极、PMOS管M6的源极、PMOS管M7的源极、PMOS管M16的源极、PMOS管M17的源极、PMOS管M22的源极、PMOS管M23的源极、PMOS管M28的源极、PMOS管M29的源极、PMOS管M30的源极以及PMOS管M31的源极相连;所述低温区域温度分段补偿电路(3)包括:PMOS管M6、PMOS管M7、PMOS管M16、PMOS管M17、NMOS管M8、NMOS管M9、NMOS管M10、NMOS管M11、NMOS管M12、NMOS管M13、NMOS管M14以及NMOS管M15,其中PMOS管M6的漏极分别与NMOS管M8的栅极、NMOS管M9的栅极、NMOS管M9的漏极以及NMOS管M10的漏极相连,PMOS管M7的漏极分别与NMOS管M10的栅极、NMOS管M11的栅极以及NMOS管M11的漏极相连,NMOS管M8的源极分别与NMOS管M9的源极、NMOS管M10的源极、NMOS管M11的源极、NMOS管M12的源极、NMOS管M13的源极、NMOS管M14的源极、NMOS管M15的源极以及外部地线GND相连,PMOS管M16的漏极分别与NMOS管M12的栅极、NMOS管M13的栅极、NMOS管M13的漏极以及NMOS管M14的漏极相连,PMOS管M17的漏极分别与NMOS管M14的栅极、NMOS管M15的栅极以及NMOS管M15的漏极相连;所述高温区域温度分段补偿电路(4)包括:PMOS管M22、PMOS管M23、PMOS管M28、PMOS管M29、NMOS管M18、NMOS管M19、NMOS管M20、NMOS管M21,NMOS管M24、NMOS管M25、NMOS管M26以及NMOS管M27,其中PMOS管M22的漏极分别与NMOS管M18的漏极、NMOS管M18的栅极以及NMOS管M19的栅极相连,PMOS管M23的漏极分别与NMOS管M19的漏极、NMOS管M20的漏极、NMOS管M20的栅极以及NMOS管M21的栅极相连,NMOS管M18的源极分别与NMOS管M19的源极、NMOS管M20的源极、NMOS管M21的源极、NMOS管M24的源极、NMOS管M25的源极、NMOS管M26的源极、NMOS管M27的源极以及外部地线GND相连,PMOS管M28的漏极分别与NMOS管M24的漏极、NMOS管M24的栅极以及NMOS管M25的栅极相连,PMOS管M29的漏极分别与NMOS管M25的漏极、NMOS管M26的漏极、NMOS管M26的栅极以及NMOS管M27的栅极相连。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于重庆邮电大学,未经重庆邮电大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201611151739.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top