[发明专利]DAC开关失配误差的数字测量有效
| 申请号： | 201611156264.1 | 申请日： | 2016-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN106888020B | 公开（公告）日： | 2020-12-08 |
| 发明（设计）人： | 赵嘉林 | 申请（专利权）人： | 美国亚德诺半导体公司 |
| 主分类号： | H03M1/10 | 分类号： | H03M1/10 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 王莉莉 |
| 地址： | 美国马*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 对于使用反馈数模转换器(DAC)用于转换的模数转换器(ADC)，最终的模拟输出会受反馈DAC的误差影响或由于反馈DAC的误差而失真。可以实现数字测量技术来确定连续时间德尔塔西格玛调制器(CTDSM)或连续时间流水线调制器中的反馈DAC的开关失配误差。该方法强制每个DAC单位元件(UE)开关一定量的次数，然后使用调制器本身来测量分别由于那些开关活动所导致的误差。所获得的误差可以存储在查找表中且在数字域或模拟域内完全校正。 | ||
| 搜索关键词： | dac 开关 失配 误差 数字 测量 | ||
【主权项】：
用于测量开关失配误差的方法，包括：将固定频率方波信号应用于反馈数模转换器(DAC)的测试中的元件的输入，其中所述反馈DAC具有输出和输入，所述输出与具有反馈环构造的模数转换器(ADC)的模拟输入耦合，所述输入与所述ADC的数字输出耦合；以及基于所述固定频率方波和所述ADC的数字输出来测量反馈数模转换器的测试中的元件的开关失配误差。
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