[发明专利]一种信号源综合参数现场测量装置有效
| 申请号： | 201611161106.5 | 申请日： | 2016-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN106841824B | 公开（公告）日： | 2020-04-28 |
| 发明（设计）人： | 高春彦;成俊杰;吴远武;刘杰;张娜;陈婷 | 申请（专利权）人： | 北京无线电计量测试研究所 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08 |
| 代理公司： | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人： | 付生辉;张雪梅 |
| 地址： | 100854 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开一种信号源综合参数现场测量装置，包括：射频前端模块、频率测量模块、衰减测量模块、调制度测量模块、频谱纯度测量模块和显示控制模块；射频前端模块的输入端作为信号源综合参数现场测量装置的待测信号输入端，射频前端模块的输出端分别连接频率测量模块、衰减测量模块、调制度测量模块和频谱纯度测量模块的输入端，频率测量模块、衰减测量模块、调制度测量模块和频谱纯度测量模块的输出端均连接显示控制模块的输入端。本发明可实现对信号源各项技术指标的测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 信号源 综合 参数 现场 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种信号源综合参数现场测量装置，其特征在于，该装置包括：射频前端模块、频率测量模块、衰减测量模块、调制度测量模块、频谱纯度测量模块和显示控制模块；射频前端模块的输入端作为信号源综合参数现场测量装置的待测信号输入端，射频前端模块的输出端分别连接频率测量模块、衰减测量模块、调制度测量模块和频谱纯度测量模块的输入端，频率测量模块、衰减测量模块、调制度测量模块和频谱纯度测量模块的输出端均连接显示控制模块的输入端。
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