[发明专利]一种诊断轴承轴向擦伤和扩展故障及减少该故障的方法有效

专利信息
申请号: 201611162130.0 申请日: 2016-12-15
公开(公告)号: CN108225768B 公开(公告)日: 2019-09-20
发明(设计)人: 唐德尧;王智 申请(专利权)人: 唐智科技湖南发展有限公司
主分类号: G01M13/04 分类号: G01M13/04
代理公司: 长沙明新专利代理事务所(普通合伙) 43222 代理人: 徐新
地址: 410116 湖南省长*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 一种诊断轴承轴向擦伤和扩展故障及减少该故障的方法,针对轴承的外环和内环,实现是否存在均布轴向擦伤、擦伤扩展为剥离、擦伤引发断裂的深层次诊断,从而可以对仅出现均布擦伤但尚未扩展到剥离或断裂者,实现利用其剩余寿命的继续使用,而在出现擦伤扩展为剥离或断裂时立即更新轴承。达到既能充分利用擦伤轴承的剩余寿命、提高经济效益,又能及时识别、更新故障扩展轴承,防止引发事故,并指导合理选择替换轴承,防止均布擦伤及后续故障频繁发生,提高装备可靠性的目标。
搜索关键词: 擦伤 轴承 均布 剩余寿命 剥离 轴承轴 诊断 断裂 断裂的 内环 轴向 更新 替换
【主权项】:
1.一种诊断轴承轴向擦伤和扩展故障的方法,使用检测故障冲击的传感器和与之连接的相应检测仪器,对于内环转动、外环固定的轴承,利用现有广义共振/共振解调方法和现有转速跟踪检测方法检测内环转动、外环固定的轴承的故障冲击信号,并在转轴的每一个转动周期对信号进行I次均匀采样,获得故障冲击信号样本S0(i),其特征在于,包括如下步骤:步骤1,将故障冲击信号样本S0(i)滤波得到长度为包含S0(i)中最大N个故障冲击周期的冲击信号S(i),整数N的取值为INT(S0(i)样本的长度/故障冲击的理论周期长度);求取S(i)波形的极大值信号SJ(i),求SJ(i)的最大值MAXSJ,求SJ(i)的峰值平均值MEANSJ;计算内环单故障所引起的相邻内环故障冲击的理论周期Lnei=INT(I*2*D0/(D0+d)/Z)及外环单故障所引起的相邻外环故障冲击的理论周期Lwai=INT(I*2*D0/(D0‑d)/Z),式中,D0为轴承的公称中径,d为滚子公称直径,Z为滚子个数,INT为四舍五入函数,I为采样系数,定义为转子每转一周的均匀采样次数;步骤2,求SJ(i)中大于0.3*MAXSJ的故障冲击个数N1;测量N1逐个波的相互间距B1,若所有B1满足0.1>=B1/Lnei‑INT(B1/Lnei)>=‑0.1,则置信度X1=1,否则X1=0;式中INT为四舍五入函数;步骤3,求SJ(i)中大于0.8*MAXSJ的故障冲击个数N2;测量N2逐个波的相互间距B2,若所有B2满足0.1>=B2/Lnei‑INT(B2/Lnei)>=‑0.1,则置信度X2=1,否则X2=0,式中INT为四舍五入函数;步骤4,若N1/N<1/5且X1=1则诊断为内环单处故障;若1/5<N1/N<1/2且X1=1则诊断为内环局部擦伤;若N1/N>1/2且X1=1则诊断为内环均布擦伤;若N2/N<1/8且X2=1以及MAXSJ/MEANSJ>1.6则诊断为内环单处扩展至断裂;步骤5,求SJ(i)中大于1.5*MEANSJ的故障冲击个数N3;测量N3逐个波的相互间距B3,若所有B3满足相邻两个的和等于Lwai,则诊断为外环剥离,宽度为WB=B3/I*Cbw;若所有B3均不满足相邻两个的和等于Lwai,若所有B3满足相邻两个的和等于Lnei,则诊断为内环剥离,宽度为WB=B3/I*Cbn;若所有B3均不满足相邻两个的和等于Lnei,则按步骤4分类;式中,I为采样系数,定义为转子每转一周的均匀采样次数,Cbw为转子转一周的过程中轴承的保持架相对外环的移动距离,Cbw=(D0‑d)/(2D0)*Cwai,Cbn为转子转一周的过程中内环相对轴承的保持架的移动距离,Cbn=[1‑(D0‑d)/(2D0)]*Cnei=(D0+d)/(2D0)*Cnei,Cwai为外环滚道周长,Cwai=(D0+d)*π,Cnei为内环滚道周长,Cnei=(D0‑d)*π。
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