[发明专利]通过掺杂物辅助的光致电离来检测化合物在审
申请号: | 201611165820.1 | 申请日: | 2016-12-16 |
公开(公告)号: | CN107037114A | 公开(公告)日: | 2017-08-11 |
发明(设计)人: | S.达维拉;H.施米德特;H.赖;A.维尔科夫;S.卢科夫 | 申请(专利权)人: | 莫福探测仪器有限责任公司 |
主分类号: | G01N27/62 | 分类号: | G01N27/62 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司72001 | 代理人: | 周蓉,罗文锋 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本公开涉及使用掺杂物辅助的光致电离来检测感兴趣的物质的能力。在所公开的方法和过程中可使用各种掺杂物来检测诸如爆炸物、麻醉剂、非法物质等等的物质。 | ||
搜索关键词: | 通过 掺杂 辅助 致电 检测 化合物 | ||
【主权项】:
一种用于检测物质的方法,所述方法包括:将包括分子的样品气流输送至离子迁移光谱仪的电离室中;将掺杂物引入所述室中,其中所述掺杂物包括取代的烃化合物,其中所述烃被卤素、含有至少两个碳原子的烷基、和烷氧基中的至少一种取代;在所述室内电离所述气流的至少一种分子和所述掺杂物;进行所述样品分子的分析;以及检测所述样品分子内的物质。
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