[发明专利]一种SOC芯片调试方法和设备

摘要

本发明公开了一种SOC芯片调试方法和设备，所述方法通过引脚设置单元来控制第一至第五输入输出引脚处于输入有效状态或输出有效状态，并通过信号选择来确定芯片处于何种模式(包括功能模式、2线调试模式和5线调试模式)，并在芯片处于某一模式下时，对应调整输入输出引脚与相应的JTAG控制器或功能元件的连接关系，从而复用调试设备的引脚达到兼容2线SWD控制器和5线JTAG控制器进行调试的效果。相较于现有2线SWD控制器和5线JTAG控制器分开设置、单独进行调试的方案，节约了调试过程的硬件成本。

主权项

1.一种SOC芯片调试设备，其特征在于，所述调试设备包括至少5个输入输出引脚，2线SWD控制器，5线JTAG控制器，引脚设置单元，模式设置单元；所述引脚设置单元与输入输出引脚连接；所述输入输出引脚包括第一输入输出引脚、第二输入输出引脚、第三输入输出引脚、第四输入输出引脚和第五输入输出引脚；所述2线SWD控制器分别与第一输入输出引脚、第二输入输出引脚连接，所述5线JTAG控制器分别与第一输入输出引脚、第二输入输出引脚、第三输入输出引脚、第四输入输出引脚和第五输入输出引脚连接；所述第五输入输出引脚用于对5线JTAG控制器的内部电路进行复位；所述模式设置单元用于接收第一信号，让SOC芯片处于调试模式；还用于接收第二信号，让SOC芯片处于2线调试模式；所述引脚设置单元用于将第一输入输出引脚和第二输入输出引脚设置为输入有效状态，所述第一输入输出引脚用于输入第一调试时钟至2线SWD控制器，所述第二输入输出引脚用于输入第一调试数据和第一调试命令至2线SWD控制器；所述2线SWD控制器用于接收第一调试时钟，并以第一调试时钟频率运转工作，以及执行第一调试命令，对第一调试数据进行第一调试操作，得到第一输出数据；所述引脚设置单元用于将第二输入输出引脚设置为输出有效状态，所述2线SWD控制器用于将第一输出数据传输至第二输入输出引脚；所述模式设置单元还用于接收第三信号，让SOC芯片处于5线调试模式；所述第一输入输出引脚用于输入第二调试时钟至5线JTAG控制器，所述第二输入输出引脚用于输入第二调试命令至5线JTAG控制器，所述第三输入输出引脚用于输入第二调试数据至5线JTAG控制器；所述5线JTAG控制器用于接收第二调试时钟，并以第二调试时钟频率运转工作，以及执行第二调试命令，对第二调试数据进行第二调试操作，得到第二输出数据；所述引脚设置单元用于将第四输入输出引脚设置为输出有效状态，5线JTAG控制器用于将第二输出数据传输至第四输入输出引脚。