[发明专利]生长在Si衬底上的InN纳米柱外延片及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201611166965.3 申请日: 2016-12-16
公开(公告)号: CN106783948B 公开(公告)日: 2023-08-22
发明(设计)人: 李国强;高芳亮;温雷;张曙光;徐珍珠;韩晶磊;余粤锋 申请(专利权)人: 华南理工大学
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L29/20;H01L21/02;C30B23/02;C30B29/60;C30B29/40;C30B29/02
代理公司: 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 代理人: 陈文姬
地址: 510640 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了生长在Si衬底上的InN纳米柱外延片,由下至上依次包括Si衬底、In金属纳米微球层和InN纳米柱层。所述In金属纳米微球层中的In金属纳米微球的直径为20‑70nm。所述InN纳米柱层中InN纳米柱直径为40‑80nm。本发明还公开了生长在Si衬底上的InN纳米柱外延片的制备方法。本发明的纳米柱直径均一,同时解决了InN因与Si之间存在较大晶格失配而在其中产生大量位错的技术难题,大大减少了InN纳米柱外延层的缺陷密度,有利提高了载流子的辐射复合效率,可大幅度提高氮化物器件如半导体激光器、发光二极管的发光效率。
搜索关键词: 生长 si 衬底 inn 纳米 外延 及其 制备 方法
【主权项】:
生长在Si衬底上的InN纳米柱外延片,其特征在于,由下至上依次包括Si衬底、In金属纳米微球层和InN纳米柱层。
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