[发明专利]生长在Si衬底上的InN纳米柱外延片及其制备方法有效
申请号: | 201611166965.3 | 申请日: | 2016-12-16 |
公开(公告)号: | CN106783948B | 公开(公告)日: | 2023-08-22 |
发明(设计)人: | 李国强;高芳亮;温雷;张曙光;徐珍珠;韩晶磊;余粤锋 | 申请(专利权)人: | 华南理工大学 |
主分类号: | H01L29/06 | 分类号: | H01L29/06;H01L29/20;H01L21/02;C30B23/02;C30B29/60;C30B29/40;C30B29/02 |
代理公司: | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人: | 陈文姬 |
地址: | 510640 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了生长在Si衬底上的InN纳米柱外延片,由下至上依次包括Si衬底、In金属纳米微球层和InN纳米柱层。所述In金属纳米微球层中的In金属纳米微球的直径为20‑70nm。所述InN纳米柱层中InN纳米柱直径为40‑80nm。本发明还公开了生长在Si衬底上的InN纳米柱外延片的制备方法。本发明的纳米柱直径均一,同时解决了InN因与Si之间存在较大晶格失配而在其中产生大量位错的技术难题,大大减少了InN纳米柱外延层的缺陷密度,有利提高了载流子的辐射复合效率,可大幅度提高氮化物器件如半导体激光器、发光二极管的发光效率。 | ||
搜索关键词: | 生长 si 衬底 inn 纳米 外延 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
生长在Si衬底上的InN纳米柱外延片,其特征在于,由下至上依次包括Si衬底、In金属纳米微球层和InN纳米柱层。
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