[发明专利]一种轴向漏磁信号长度量化方法有效
| 申请号： | 201611168423.X | 申请日： | 2016-12-16 |
| 公开（公告）号： | CN106770627B | 公开（公告）日： | 2019-12-13 |
| 发明（设计）人： | 魏宁;郑莉;李娜;呼婧 | 申请（专利权）人： | 北京华航无线电测量研究所 |
| 主分类号： | G01N27/83 | 分类号： | G01N27/83 |
| 代理公司： | 11386 北京天达知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人： | 张春;龚颐雯 |
| 地址： | 100013 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种轴向漏磁信号的长度量化方法，具体实现步骤为：首先，提取缺陷信号的固定阈值特征和微分长度特征，并根据融合策略获得信号长度特征，然后，提取圆周信号特征和信号幅值特征，最后，根据缺陷内外属性建立长度量化等式，利用已知缺陷样本求解模型未知参数，最终获得长度量化模型。本发明的方法对内部、外部管壁缺陷长度量化均适用；可有效减小速度因素对长度量化结果的影响；采用稳定特征最为量化输入，可提高方法鲁棒性。 | ||
| 搜索关键词： | 长度量化 长度特征 求解模型 缺陷信号 缺陷样本 融合策略 属性建立 速度因素 未知参数 稳定特征 圆周信号 轴向漏磁 阈值特征 鲁棒性 外部管 减小 量化 | ||
【主权项】：
1.一种轴向漏磁信号长度量化方法，其特征在于，该方法包括：/n步骤1、漏磁信号长度特征提取；具体实现步骤为：/n1.1、微分长度特征提取/n设漏磁信号表示为S(x)，计算其微分信号S'(x)/n
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