[发明专利]片式元器件的封端方法及制备方法在审
申请号: | 201611168709.8 | 申请日: | 2016-12-16 |
公开(公告)号: | CN106653403A | 公开(公告)日: | 2017-05-10 |
发明(设计)人: | 农剑;周超;付振晓;沓世我;伍秀波;王建明;李保昌 | 申请(专利权)人: | 广东风华高新科技股份有限公司 |
主分类号: | H01G13/00 | 分类号: | H01G13/00;H01C17/02;H01C17/28;H01F41/00;H01F41/14;H01F41/18 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司44224 | 代理人: | 生启 |
地址: | 526020 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明涉及一种片式元器件的封端方法及制备方法。包括以下步骤采用磁控溅射的方式在所述陶瓷体的端面制备端电极;在所述端电极的表面电镀形成镍层;在所述镍层的表面电镀形成锡层。上述片式元器件的封端方法及上述片式元器件的制备方法,采用磁控溅射的方式在陶瓷体的端面制备端电极,可以提高器件表面的平整光滑程度;再在端电极的表面电镀镍层和锡层,可以对内电极起到保护作用,在焊接时,能减小高温对内电极的破坏。 | ||
搜索关键词: | 元器件 端方 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种片式元器件的封端方法,其特征在于,包括以下步骤:采用磁控溅射的方式在陶瓷体的端面制备端电极;在所述端电极的表面电镀形成镍层;在所述镍层的表面电镀形成锡层。
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