[发明专利]诊断麦克风和/或扬声器密封件的密封性能的方法

摘要

本发明涉及诊断麦克风和/或扬声器密封件的密封性能的方法。电子装置包括壳体、扬声器、麦克风、麦克风密封件和/或扬声器密封件。该方法包括基于由一个或多个连续的时间‑频率函数所描述的扫描频率从扬声器发出声音刺激；在发出声音刺激的同时通过麦克风记录声音响应；将声音响应与一个或多个连续的时间‑频率函数的表示进行卷积，从而获得前发脉冲响应信号；使用前发脉冲响应信号确定通过电子装置的传播延迟；基于传播延迟选择与声音刺激时间上对应的声音响应的一部分；将声音响应的所述部分与一个或多个连续的时间‑频率函数的表示进行卷积，从而获得总脉冲响应信号；并且诊断麦克风密封件和/或扬声器密封件的密封性能。

主权项

一种用于诊断电子装置(10)中麦克风密封件和/或扬声器密封件的密封性能的方法，所述电子装置包括：壳体(11)、扬声器(30)以及麦克风(20)，所述电子装置在所述麦克风和所述壳体之间的界面处设置有麦克风密封件(22)，和/或在所述扬声器和所述壳体之间的界面处设置有扬声器密封件(32)，所述方法包括如下步骤：a)基于由一个或多个连续的时间‑频率函数所描述的扫描频率而从所述扬声器发出声音刺激；b)在发出所述声音刺激的同时通过所述麦克风记录声音响应；c)将所述声音响应与所述一个或多个连续的时间‑频率函数的表示进行卷积，从而获得前发脉冲响应信号，该前发脉冲响应信号表示所述声音响应和所述一个或多个连续的时间‑频率函数的所述表示之间的、随时间的前发脉冲响应相关性；d)使用所述前发脉冲响应信号来确定通过所述电子装置的传播延迟；e)基于所述传播延迟，选择与所述声音刺激时间上对应的所述声音响应的一部分；f)将与所述声音刺激时间上对应的所述声音响应的所述部分与所述一个或多个连续的时间‑频率函数的所述表示进行卷积，从而获得总脉冲响应信号，该总脉冲响应信号表示与所述声音刺激时间上对应的所述声音响应的所述部分和所述一个或多个连续的时间‑频率函数的所述表示之间的随时间的总脉冲响应相关性；以及g)通过将所述总脉冲响应信号的表示同与所述电子装置相关的预定参考总脉冲响应信号的表示进行比较，来诊断所述麦克风密封件和/或所述扬声器密封件的密封性能。