[发明专利]一种利用光学二次谐波测定铁电薄膜畴取向的系统及方法在审
| 申请号： | 201611169482.9 | 申请日： | 2016-12-16 |
| 公开（公告）号： | CN107144550A | 公开（公告）日： | 2017-09-08 |
| 发明（设计）人： | 钟向丽;张园;郭泉;王金斌;周益春;林福平 | 申请（专利权）人： | 湘潭大学 |
| 主分类号： | G01N21/55 | 分类号： | G01N21/55;G01N21/59 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司44202 | 代理人： | 郝传鑫 |
| 地址： | 411100 湖*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种利用光学二次谐波测定铁电薄膜畴取向的系统，包括透射测试系统和反射测试系统，所述透射测试系统包括激光发射模块、待测样品安装模块和透射激光接收模块，所述反射测试系统包括激光发射模块、待测样品安装模块和反射激光接收模块。本发明还提供了一种利用光学二次谐波测定铁电薄膜畴取向的方法，包括安装样品、建立二次谐波与入射光偏振角度和样品旋转角度之间的依赖关系以及根据该二次谐波计算铁电薄膜畴取向的步骤。本发明的利用光学二次谐波测定铁电薄膜畴取向的系统及方法具有非接触、灵敏度高、高效和非破坏性的优点，对于促进铁电材料的应用和发展具有重大的科学意义和商业价值。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 利用 光学 二次 谐波 测定 薄膜 取向 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种利用光学二次谐波测定铁电薄膜畴取向的系统，其特征在于，包括透射测试系统和反射测试系统，所述透射测试系统包括激光发射模块、待测样品安装模块和透射激光接收模块，所述反射测试系统包括激光发射模块、待测样品安装模块和反射激光接收模块；所述激光发射模块，用于发射入射激光、调整入射激光的偏振并将该入射激光聚焦到待测样品上；所述待测样品安装模块(1)，用于安装所述待测样品并旋转样品角度；所述透射激光接收模块，用于聚焦所述待测样品经入射激光照射后产生的二次谐波、控制该二次谐波的偏振并测量该二次谐波的强度；所述反射激光接收模块，用于反射和聚焦所述待测样品经入射激光照射后产生的二次谐波、控制该二次谐波的偏振并测量该二次谐波的强度。
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