[发明专利]一种基于金刚石衬底的氮化镓高电子迁移率晶体管及其制备方法在审
申请号: | 201611169999.8 | 申请日: | 2016-12-16 |
公开(公告)号: | CN106783998A | 公开(公告)日: | 2017-05-31 |
发明(设计)人: | 吴立枢;孔月婵 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第五十五研究所 |
主分类号: | H01L29/778 | 分类号: | H01L29/778;H01L21/335;H01L29/40 |
代理公司: | 南京理工大学专利中心32203 | 代理人: | 唐代盛 |
地址: | 210016 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于金刚石衬底的氮化镓高电子迁移率晶体管及其制备方法,首先清洗碳化硅基氮化镓圆片和临时载片表面;在临时载片的正面涂敷粘合材料作为键合材料,并放在热板上烘烤;将碳化硅基氮化镓圆片和临时载片正面相对进行键合;将碳化硅基氮化镓圆片的碳化硅衬底减薄抛光、刻蚀去除掉剩余的碳化硅衬底;清洗以临时载片为支撑的氮化镓外延层表面;在以临时载片为支撑的氮化镓外延层表面生长一层介质;将以临时载片为支撑的氮化镓外延层外延生长多晶金刚石衬底,将金刚石基氮化镓圆片与临时载片自动分离;在金刚石基氮化镓圆片上制备高电子迁移率晶体管。本发明打破了原有外延生长难度大的限制,能够较好的控制在氮化镓上外延生长金刚石。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 金刚石 衬底 氮化 电子 迁移率 晶体管 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种基于金刚石衬底的氮化镓高电子迁移率晶体管,其特征在于包括以下步骤:1)用盐酸清洗碳化硅基氮化镓圆片和临时载片表面,再用去离子水进行冲洗,然后放入甩干机进行甩干;2)在临时载片的正面涂敷粘合材料作为键合材料;3)将临时载片正面朝上放在热板上烘烤;4)待临时载片在室温下自然冷却后,将碳化硅基氮化镓圆片和临时载片正面相对进行键合;5)将碳化硅基氮化镓圆片的碳化硅衬底减薄抛光,然后利用反应等离子体刻蚀去除掉剩余的碳化硅衬底,同时刻蚀会停止在刻蚀停止层,不会对氮化镓外延层造成破坏,此时得到了以临时载片为支撑的氮化镓外延层;6)用盐酸清洗以临时载片为支撑的氮化镓外延层表面,再用去离子水进行冲洗,然后放入甩干机进行甩干;7)在以临时载片为支撑的氮化镓外延层表面通过等离子体增强化学气相沉积生长一层介质;8)将以临时载片为支撑的氮化镓外延层放入化学气相沉积反应腔内在介质层表面低温外延生长多晶金刚石衬底,得到了金刚石基氮化镓圆片;9)将金刚石基氮化镓圆片浸泡在粘合材料去除液中,待粘合材料被去除液全部溶解后金刚石基氮化镓圆片将与临时载片自动分离;10)在金刚石基氮化镓圆片上制备高电子迁移率晶体管,从而得到了基于金刚石衬底的氮化镓高电子迁移率晶体管。
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