[发明专利]一种离心分离硼同位素的方法在审
申请号: | 201611170055.2 | 申请日: | 2016-12-16 |
公开(公告)号: | CN106621811A | 公开(公告)日: | 2017-05-10 |
发明(设计)人: | 周明胜;裴根;潘建雄 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | B01D59/20 | 分类号: | B01D59/20 |
代理公司: | 北京众合诚成知识产权代理有限公司11246 | 代理人: | 张文宝 |
地址: | 10008*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明属于同位素分离生产技术领域,特别涉及一种离心分离硼同位素的方法。包括以下步骤(1)采用三氯化硼作为分离介质,通过分馏法对其进行净化;(2)使用气体离心法进行同位素分离;(3)使用气体质谱仪对离心分离产品中不同分子量的组分进行丰度分析。本发明使用三氯化硼作为分离介质,原料易获取,生产成本较低;使用气体离心法,具有能耗低、经济性好、生产规模灵活等特点;使用气体质谱仪进行丰度分析,能够提供高的丰度测量精度。 | ||
搜索关键词: | 一种 离心 分离 同位素 方法 | ||
【主权项】:
一种离心分离硼同位素的方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:(1)分离介质的选择和净化:采用三氯化硼作为分离介质,通过分馏法对其进行净化;(2)使用气体离心法进行同位素分离:建立离心分离级联装置,在常温下,将净化后的三氯化硼以气态形式通入级联装置,进行同位素分离,在轻组分料流端取高丰度10B同位素产品,重组分料流端取高丰度11B同位素产品;(3)使用气体质谱仪进行丰度分析:使用气体质谱仪的离子源装置打掉离心分离产品BCl3中的一个电子,使之成为(BCl3)+离子,进行三氯化硼不同分子量组分的丰度分析。
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