[发明专利]半导体激光器幅值测试装置在审

专利信息
申请号: 201611173524.6 申请日: 2016-12-16
公开(公告)号: CN106841965A 公开(公告)日: 2017-06-13
发明(设计)人: 李成昌;黄文飞 申请(专利权)人: 重庆航伟光电科技有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 400000 *** 国省代码: 重庆;85
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摘要: 发明公开了一种半导体激光器幅值测试装置,包括箱体与电机,所述电机固设于箱体上,在所述箱体内固设有左支撑板与右支撑板,在所述左支撑板与右支撑板之间设置有测试板,该测试板上固定有多个产品固定座,在所述测试板后侧的箱体上安装有波形输出板装配体,所述测试板的上方设置有激光头架,该激光头架与伸入箱体内的所述电机的转轴固定连接,在所述激光头架上开设有与所述产品固定座一一对应的对光孔,且该对光孔与所述产品固定座同心设置。其显著效果是有效地避免了错判与漏判,不仅提高了测试效率,而且测试结果具有更高的准确性与可靠性。
搜索关键词: 半导体激光器 测试 装置
【主权项】:
一种半导体激光器幅值测试装置,其特征在于:包括箱体(1)与电机(2),所述电机(2)固设于箱体(1)上,在所述箱体(1)内固设有左支撑板(3)与右支撑板(4),在所述左支撑板(3)与右支撑板(4)之间设置有测试板(5),该测试板(5)上固定有多个产品固定座(6),在所述测试板(5)后侧的箱体(1)上安装有波形输出板装配体(7),所述测试板(5)的上方设置有激光头架(8),该激光头架(8)与伸入箱体(1)内的所述电机(2)的转轴(9)固定连接,在所述激光头架(8)上开设有与所述产品固定座(6)一一对应的对光孔(10),且该对光孔(10)与所述产品固定座(6)同心设置。
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