[发明专利]塔康\精密测距设备测距精度分析方法有效
| 申请号： | 201611174291.1 | 申请日： | 2016-12-19 |
| 公开（公告）号： | CN106767920B | 公开（公告）日： | 2020-02-07 |
| 发明（设计）人： | 张建明;徐飞;骆家强;李林;郭小伟;黄伟 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第二十研究所 |
| 主分类号： | G01C25/00 | 分类号： | G01C25/00 |
| 代理公司： | 61204 西北工业大学专利中心 | 代理人： | 顾潮琪 |
| 地址： | 710068 *** | 国省代码： | 陕西;61 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种塔康\精密测距设备测距精度分析方法，从机载询问设备和应答器两方面对DME/P、TACAN测距精度进行分析，综合机载设备和应答器对测距误差的影响，得到测距系统的误差。本发明从影响DME/P、TACAN测距精度的诸多因素出发，给出DME/P、TACAN测距精度的详细分析方法，为DME/P、TACAN系统的设计提供了理论依据。 | ||
| 搜索关键词： | 测距 应答器 精密测距设备 测距误差 测距系统 机载设备 精度分析 询问设备 分析 | ||
【主权项】：
1.一种塔康\精密测距设备测距精度分析方法，其特征在于包括下述步骤：/n步骤1、确定机载询问设备的应答脉冲时间测量误差σ
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第二十研究所，未经中国电子科技集团公司第二十研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201611174291.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种能杀菌消毒的加湿系统
- 下一篇：一种烷烃异构化催化剂及其制备方法
