[发明专利]一种MCU温度传感器的测试方法和装置有效
| 申请号： | 201611177543.6 | 申请日： | 2016-12-19 |
| 公开（公告）号： | CN106679849B | 公开（公告）日： | 2019-02-19 |
| 发明（设计）人： | 郭凯 | 申请（专利权）人： | 北京兆易创新科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01K15/00 | 分类号： | G01K15/00 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 孟金喆;胡彬 |
| 地址： | 100083 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种MCU温度传感器的测试方法及装置，该方法包括：待测MCU预先写入温度环境的温度变化规律以及采样规律的数据；在启动测试后，所述待测MCU根据温度变化规律以及采样规律读取温度传感器的检测温度值；所述待测MCU对检测温度值进行处理。通过本发明的技术方案，能够降低测试复杂性，减少成本，提高测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 mcu 温度传感器 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种MCU温度传感器的测试方法，其特征在于，包括：待测MCU预先写入温度环境的温度变化规律以及采样规律的数据；在启动测试后，所述待测MCU根据温度变化规律以及采样规律读取温度传感器的检测温度值；所述待测MCU对检测温度值进行处理；其中，在启动测试后，所述待测MCU根据温度变化规律以及采样规律读取温度传感器的检测温度值包括：所述待测MCU按照预设定时条件或触发指令，确定启动测试；所述待测MCU根据所述温度变化规律确定当前环境温度；所述待测MCU根据当前环境温度以及所述采样规律确定当前采样点配置规则；所述待测MCU根据当前采样点配置规则确定的采样点读取温度传感器的检测温度值。
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