[发明专利]一种中铝瓷球表面缺陷检测方法

摘要

本发明涉及一种中铝瓷球表面缺陷检测方法：采集中铝瓷球表面的光学图像；对所述光学图像进行灰度变换；构造线性平滑滤波器对所述二值图像进行滤波，除去高频成分和锐化细节；采用高反差保留算法对滤波图像进行增强；采用阈值边缘描述法对滤波图像进行首次图像分割获得初步的中铝瓷球表面的缺陷信息；以面积为特征进行统计分类，并进行筛选；对筛选出的区域进行膨胀、合并为域，将区域单独分割；将上步得到的局部初始图像再次进行线性平滑运算，利用动态阈值法进行图像精准分割，得到精准的中铝瓷球表面的缺陷信息；进行面积统计，计算其像素点，若像素点大于0，则判定对应中铝瓷球不合格。本发明提高了检测准确性与自动化程度，提升了检测效率。

主权项

1.一种中铝瓷球表面缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤S1：采集中铝瓷球表面的光学图像；步骤S2：对所述光学图像进行灰度变换，得到二值图像；步骤S3：构造线性平滑滤波器对所述二值图像进行滤波，除去高频成分和锐化细节，得到滤波图像；步骤S4：采用高反差保留算法对所述滤波图像进行增强，凸显出中铝瓷球表面裂缝与背景之间的对比度；步骤S5：采用阈值边缘描述法对所述滤波图像进行首次图像分割得到若干区域，结合图像形态学运算滤除背景，获得初步的中铝瓷球表面的缺陷信息；步骤S6：对于所述若干区域以面积为特征进行统计分类，设定面积值M1和M2，筛选出面积值介于M1和M2之间的区域；步骤S7：对筛选出的区域设定膨胀系数，对对应的图像进行膨胀，对膨胀后的图像合并为域，利用对比作差法，将区域单独分割出来，得到与膨胀后的图像特征相同的局部初始图像；步骤S8：将步骤S7得到的局部初始图像再次进行线性平滑运算并进行滤波，将再次滤波后的图像利用动态阈值法进行图像精准分割，得到精确的中铝瓷球表面的缺陷信息；步骤S9：对所述精确的中铝瓷球表面的缺陷信息进行面积统计，计算其像素点，若像素点大于0，则判定对应中铝瓷球不合格；所述步骤S5中，阈值边缘描述法的具体内容如下：步骤S51：选择一个初始近似阈值的估算值T1和T2，其中，T1小于T2；步骤S52：利用估算值T1和T2把图像按照灰度值是否小于T1、大于T2以及介于T1和T2之间分成三组区域R₁、R₂和R₃；步骤S53：合并区域R₁和R₂，将图像重新分成区域L1和L2；步骤S54：利用求导法对区域L1和L2区域交界处二次求导，结果以矩阵形式保存；步骤S55：针对上述保存后的图像再次设置T1’和T2’，得到满足上述条件的所有区域的边界信息以矩阵形式保存；所述步骤S8中，动态阈值法的具体内容如下：步骤S81：将再次滤波后的图像点集阈值记做g{e},将局部图像的点集的阈值记做g{o},并设定基准差值t；步骤S82：将g{e}中的数值分别减去基准差值t,并与g{o}比较，若满足g{o}<g{e}‑t，则将该图像上的点集留下，否则剔除，最后得到精确滤波后的中铝瓷球表面缺陷信息，并对其进行标记。