[发明专利]图像传感器及半导体装置的制作方法有效
申请号: | 201611180336.6 | 申请日: | 2016-12-19 |
公开(公告)号: | CN107039477B | 公开(公告)日: | 2019-01-01 |
发明(设计)人: | 郑源伟;陈刚;毛杜立;戴森·戴 | 申请(专利权)人: | 豪威科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 齐杨 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请案涉及图像传感器及半导体装置的制作方法。一种图像传感器制作方法包含提供半导体材料、绝缘层及逻辑层,其中所述半导体材料包含多个光电二极管。形成从所述半导体材料延伸穿过所述绝缘层且延伸到所述逻辑层中的穿半导体通孔。利用封盖层封盖所述穿半导体通孔。在所述半导体材料中的第一沟槽中安置金属垫。在所述封盖层上及所述半导体材料中的所述第一沟槽中沉积绝缘材料。在所述绝缘材料中的第二沟槽中沉积抗蚀剂,且所述绝缘材料中的所述第二沟槽与所述金属垫对准。移除所述绝缘材料以暴露所述封盖层,且还移除所述封盖层的接近于所述多个光电二极管安置的一部分。接近于所述多个光电二极管形成金属栅格。 | ||
搜索关键词: | 图像传感器 半导体 装置 制作方法 | ||
【主权项】:
1.一种图像传感器制作方法,其包括:提供半导体材料、绝缘层及逻辑层,其中所述绝缘层安置于所述半导体材料与所述逻辑层之间,其中所述半导体材料包含多个光电二极管,且其中穿半导体通孔从所述半导体材料延伸穿过所述绝缘层且延伸到所述逻辑层中;利用封盖层封盖所述穿半导体通孔,其中所述封盖层接近于所述半导体材料安置,且其中所述封盖层的横向界限延伸跨越所述穿半导体通孔的横向界限及所述多个光电二极管的横向界限;形成安置于所述半导体材料中的第一沟槽中的金属垫;在所述封盖层上及所述半导体材料中的所述第一沟槽中沉积绝缘材料,其中所述金属垫由所述绝缘材料覆盖;在所述绝缘材料中的第二沟槽中沉积抗蚀剂,其中所述绝缘材料中的所述第二沟槽与所述金属垫对准;移除所述绝缘材料以暴露所述封盖层;移除所述封盖层的接近于所述多个光电二极管安置的一部分;及接近于所述多个光电二极管形成金属栅格。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的