[发明专利]具有吸收增强结构的II类超晶格光电探测器及其制备方法有效
申请号: | 201611180940.9 | 申请日: | 2016-12-19 |
公开(公告)号: | CN106684180B | 公开(公告)日: | 2018-09-07 |
发明(设计)人: | 宋国峰;吴浩越;李健;江宇;于海龙;付东;徐云;朱海军 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | H01L31/0352 | 分类号: | H01L31/0352;H01L31/18 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 任岩 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种具有吸收增强结构的II类超晶格光电探测器及其制备方法,该制备方法包括以下步骤:在衬底上分子束外延生长形成一吸收增强层;在吸收增强层的上表面分子束外延生长形成一吸收层,吸收层为N结构II类超晶格结构;完成具有吸收增强结构的II类超晶格光电探测器的制备。本发明通过采用N结构II类超晶格材料作为吸收层,同时引入吸收增强层,使得器件在目标波长处可获得高达80%的高量子效率,并且在目标波长附近体现了良好的窄带宽特性。 | ||
搜索关键词: | 具有 吸收 增强 结构 ii 晶格 光电 探测器 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
1.一种具有吸收增强结构的II类超晶格光电探测器的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1、在衬底上形成一吸收增强层,所述吸收增强层为能够促进吸收增强的周期排列结构;步骤2、在所述吸收增强层的上表面形成一吸收层,所述吸收层为II类超晶格结构;步骤3、完成所述具有吸收增强结构的II类超晶格光电探测器的制备,其中,所述吸收增强层为由A1AsSb/GaSb或InAlAsSb/GaSb交替生长形成的周期排列结构。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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