[发明专利]具有吸收增强结构的II类超晶格光电探测器及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201611180940.9 申请日: 2016-12-19
公开(公告)号: CN106684180B 公开(公告)日: 2018-09-07
发明(设计)人: 宋国峰;吴浩越;李健;江宇;于海龙;付东;徐云;朱海军 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: H01L31/0352 分类号: H01L31/0352;H01L31/18
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 任岩
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种具有吸收增强结构的II类超晶格光电探测器及其制备方法,该制备方法包括以下步骤:在衬底上分子束外延生长形成一吸收增强层;在吸收增强层的上表面分子束外延生长形成一吸收层,吸收层为N结构II类超晶格结构;完成具有吸收增强结构的II类超晶格光电探测器的制备。本发明通过采用N结构II类超晶格材料作为吸收层,同时引入吸收增强层,使得器件在目标波长处可获得高达80%的高量子效率,并且在目标波长附近体现了良好的窄带宽特性。
搜索关键词: 具有 吸收 增强 结构 ii 晶格 光电 探测器 及其 制备 方法
【主权项】:
1.一种具有吸收增强结构的II类超晶格光电探测器的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1、在衬底上形成一吸收增强层,所述吸收增强层为能够促进吸收增强的周期排列结构;步骤2、在所述吸收增强层的上表面形成一吸收层,所述吸收层为II类超晶格结构;步骤3、完成所述具有吸收增强结构的II类超晶格光电探测器的制备,其中,所述吸收增强层为由A1AsSb/GaSb或InAlAsSb/GaSb交替生长形成的周期排列结构。
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