[发明专利]封装结构上的集成扇出封装件及其形成方法有效
申请号: | 201611181544.8 | 申请日: | 2016-12-20 |
公开(公告)号: | CN106997854B | 公开(公告)日: | 2021-04-06 |
发明(设计)人: | 林文益;刘献文;林柏尧;黄震麟;吕学德;郑心圃 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/50 | 分类号: | H01L21/50;H01L23/31;H01L21/56 |
代理公司: | 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 | 代理人: | 章社杲;李伟 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种实施例封装件包括第一封装件;接触第一封装件的顶面的热界面材料(TIM)、以及接合至第一封装件的第二封装件。第二封装件包括第一半导体管芯,并且TIM接触第一半导体管芯的底面。封装件还包括设置在第二封装件的与第一封装件相对的表面上的散热器。本发明实施例涉及封装结构上的集成扇出封装件及其形成方法。 | ||
搜索关键词: | 封装 结构 集成 及其 形成 方法 | ||
【主权项】:
一种封装件,包括:第一封装件;热界面材料(TIM),接触所述第一封装件的顶面;第二封装件,接合至所述第一封装件,其中,所述第二封装件包括第一半导体管芯,以及其中,所述热界面材料接触所述第一半导体管芯的底面;以及散热器,设置在所述第二封装件的与所述第一封装件相对的表面上。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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