[发明专利]一种天基探测基准标定装置及方法有效

专利信息
申请号: 201611185711.6 申请日: 2016-12-20
公开(公告)号: CN106404004B 公开(公告)日: 2019-06-04
发明(设计)人: 张洋;唐川;鹿艺;张传鑫;程睿;刘希宁;卢斌;王春红;忻俊杰 申请(专利权)人: 上海微小卫星工程中心
主分类号: G01C25/00 分类号: G01C25/00
代理公司: 上海邦德专利代理事务所(普通合伙) 31312 代理人: 李阳
地址: 201210 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了天基探测基准标定装置及方法,本发明公开的天基探测基准标定方法包括:步骤一、陀螺测量惯性坐标系下扫描镜法线向量;步骤二、星敏感器和光纤陀螺组合测量惯性坐标系下的入射光线的向量;步骤三、根据扫描镜的空间指向和探测器中目标成像的位置向量,确定目标在惯性空间的指向。
搜索关键词: 一种 探测 基准 标定 装置 方法
【主权项】:
1.天基探测基准标定方法,采用天基探测基准标定装置标定,天基探测基准标定装置包括:安装于扫描镜背部的陀螺,所述陀螺测量惯性坐标系下扫描镜法线向量;安装于相机光机主体靠近探测器位置的光纤陀螺;安装于相机光机主体外靠近探测器基座上的星敏感器,星敏感器和光纤陀螺组合测量惯性坐标系下的探测器基准向量;其特征在于:包括:步骤一、陀螺测量惯性坐标系下扫描镜法线向量;步骤二、星敏感器和光纤陀螺组合测量惯性坐标系下的入射光线的向量;步骤三、根据扫描镜的空间指向和探测器中目标成像的位置向量,确定目标在惯性空间的指向;目标反射光线在惯性系的向量为:为惯性坐标系下的入射光线的向量,R为扫描镜的反射作用矩阵,Nx,Ny,Nz为扫描镜法线向量在惯性系的分量;R的标定方法包括:步骤3.1、T0时刻采用探测器观恒星,得到恒星在惯性系的向量为恒星在探测器坐标系的位置为姿态矩阵为GT0,探测器上成像的恒星在惯性系的向量为步骤3.2、根据反射物象共轭原理建立观测恒星在惯性系与实际恒星在惯性系的关系:Ro为T0时刻扫描镜的反射作用矩阵,Nox,Noy,Noz为T0时刻扫描镜法线向量在惯性系的分量;步骤3.3、第二次采用探测器观恒星,第二次观星时刻的反射作用矩阵为:,Δx,Δy,Δz为两次观星时间间隔内陀螺测量的扫描镜法线向量角度增量在惯性系的分量;步骤3.4、联合两次观测恒星在惯性系与实际恒星在惯性系的关系,求解Ro
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