[发明专利]一种用于红外触摸屏精度分析的方法及系统在审
| 申请号： | 201611188929.7 | 申请日： | 2016-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN106843563A | 公开（公告）日： | 2017-06-13 |
| 发明（设计）人： | 满庆奎 | 申请（专利权）人： | 北京汇冠触摸技术有限公司;北京汇冠新技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F3/041 | 分类号： | G06F3/041;G06F3/042 |
| 代理公司： | 北京庆峰财智知识产权代理事务所(普通合伙)11417 | 代理人： | 李文军 |
| 地址： | 100094 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种用于红外触摸屏精度分析的方法及系统，所述方法包括设定目标区域，获取所述目标区域中的真实物理光路图；根据所述真实物理光路图获取理论物理光路图；对所述目标区域内的目标触摸点进行索引标记；获取所述目标触摸点的真实物理坐标，获取与所述真实物理坐标相对应的理论物理坐标；获取所述真实物理坐标与所述理论物理坐标之间的物理偏差；根据所述物理偏差对所述红外触摸屏的精度进行分析。本发明的精度分析结果能够有效指导红外触摸屏的设计，缩短设计周期，从而提升红外触摸屏成品制作的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 红外 触摸屏 精度 分析 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种用于红外触摸屏精度分析的方法，其特征在于，所述方法包括：设定目标区域，获取所述目标区域中的真实物理光路图，所述真实物理光路图包括多个真实物理坐标；根据所述真实物理光路图获取理论物理光路图，所述理论物理光路图包括多个理论物理坐标；对所述目标区域内的目标触摸点进行索引标记；获取所述目标触摸点的真实物理坐标，获取与所述真实物理坐标相对应的理论物理坐标；获取所述真实物理坐标与所述理论物理坐标之间的物理偏差；根据所述物理偏差对所述红外触摸屏的精度进行分析。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京汇冠触摸技术有限公司;北京汇冠新技术股份有限公司，未经北京汇冠触摸技术有限公司;北京汇冠新技术股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201611188929.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
