[发明专利]一种晶体振荡器频率调试系统有效
| 申请号： | 201611189398.3 | 申请日： | 2016-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN106685414B | 公开（公告）日： | 2020-03-31 |
| 发明（设计）人： | 王伟;刘朝胜;周柏雄 | 申请（专利权）人： | 广东大普通信技术有限公司 |
| 主分类号： | H03L7/00 | 分类号： | H03L7/00;H03L5/00 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 孟金喆;胡彬 |
| 地址： | 523808 广东省东莞市松山湖高新*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种晶体振荡器频率调试系统，该系统包括：测试模块，包括可调电容模块、可调电阻模块和可调电源；连接装夹单元，输入端分别连接可调电容模块、可调电阻模块和可调电源的输出端，输出端用于连接待调试晶体振荡器的调试位；频率计，用于与待调试晶体振荡器相连，读取频率；计算控制模块，与测试模块的控制端和频率计相连，用于分别输出电容控制参数、电阻控制参数和电源控制参数给可调电容模块、可调电阻模块和可调电源，以形成所需电容值、电阻值和电源值，加载到待调试晶体振荡器的调试位上，读取待调试晶体振荡器的频率并调整电容控制参数、电阻控制参数和电源控制参数。本发明公开的所述调试系统优化了生产工序，提高了生产效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 晶体振荡器 频率 调试 系统 | ||
【主权项】：
一种晶体振荡器频率调试系统，其特征在于，包括：测试模块，包括可调电容模块、可调电阻模块和可调电源；连接装夹单元，所述连接装夹单元的输入端分别连接所述可调电容模块、可调电阻模块和可调电源的输出端，所述连接装夹单元的输出端用于连接待调试晶体振荡器的调试位；频率计，用于与待调试晶体振荡器相连，读取频率；计算控制模块，与所述测试模块的控制端和频率计相连，用于分别输出电容控制参数、电阻控制参数和电源控制参数给所述可调电容模块、可调电阻模块和可调电源，以形成所需的电容值、电阻值和电源值，加载到所述待调试晶体振荡器的调试位上，并用于读取所述待调试晶体振荡器的频率，根据读取的频率调整电容控制参数、电阻控制参数和电源控制参数。
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