[发明专利]一种清洁口金模块的磨具有效
| 申请号： | 201611190908.9 | 申请日： | 2016-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN106767653B | 公开（公告）日： | 2019-06-07 |
| 发明（设计）人： | 陈沈;年婷 | 申请（专利权）人： | 武汉华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/22 | 分类号： | G01B21/22;G01B21/08;G05B19/04 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 郝传鑫;熊永强 |
| 地址： | 430070 湖北省武汉市*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开一种清洁口金模块的磨具，其中，所述磨具包括：本体；能测定所述清洁口金模块角度的角度测试器，所述角度测试器凸设于所述本体上，且能在所述本体内上下移动。本发明的磨具结构简单，可以实现解决直接用口金测试清洁口金模块角度和高度时造成的刮坏口金表面及撞坏口金头的问题，本发明的磨具可通过调整参数，来达到需要的角度，保证其精密性，又可解决直接用口金测试刮坏口金表面及撞坏口金头，又可针对不同改进型清洁口金模块对应不同角度校正问题；同时本发明的磨具可通过调整参数，来达到需要的高度，可精确到0.01mm，保证校正时高度的精密性，同样可防止校正时刮坏口金表面及撞坏口金头。 | ||
| 搜索关键词： | 口金 磨具 清洁口 角度测试器 调整参数 校正 测试 角度校正 上下移动 改进型 凸设 体内 保证 | ||
【主权项】：
1.一种清洁口金模块的磨具，其特征在于，所述磨具包括：本体；能测定所述清洁口金模块角度的角度测试器，所述角度测试器凸设于所述本体上，且能在所述本体内上下移动，所述角度测试器设于所述本体的下方，所述本体的下方设有两个对称设置的角度测试器。
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