[发明专利]一种FPGA单粒子翻转故障模拟系统和方法有效
| 申请号： | 201611193066.2 | 申请日： | 2016-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN106802645B | 公开（公告）日： | 2019-06-04 |
| 发明（设计）人： | 于婷婷;陈雷;周婧;李学武;王硕 | 申请（专利权）人： | 北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所 |
| 主分类号： | G05B23/02 | 分类号： | G05B23/02 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 范晓毅 |
| 地址： | 100076 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种FPGA单粒子翻转故障模拟系统和方法，其中，所述系统包括：包括TCL脚本控制模块上位机，以及，包括待测电路、对比电路和监控电路的下位机；TCL脚本控制模块，用于进行单粒子翻转故障模拟和监控结果数据的获取；待测电路，用于在模拟的单粒子翻转故障环境下运行；对比电路，用于在正常环境下运行；监控电路，用于对待测电路和对比电路的电路运行状态进行监控。在本发明中，位于上位机的TCL脚本控制模块直接控制单粒子翻转故障模拟的流程，无需下位机硬件控制电路的辅助；下位机电路的设计不依赖于目标FPGA器件的特性，与器件架构无关，移植到其他FPGA器件时无需更改用户设计。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 fpga 粒子 翻转 故障 模拟 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种FPGA单粒子翻转故障模拟系统，其特征在于，包括：上位机和下位机；其中，所述上位机，包括：TCL脚本控制模块；所述下位机，包括：待测电路、对比电路和监控电路；TCL脚本控制模块，用于从目标配置码流的地址集合中选取一个地址元素；以及，根据所述地址元素中的帧地址和位偏移，进行单粒子翻转故障模拟；待测电路，用于在模拟的单粒子翻转故障环境下运行；对比电路，用于在正常环境下运行；监控电路，用于对待测电路和对比电路的电路运行状态进行监控；TCL脚本控制模块，还用于获取监控电路的监控结果数据；其中，所述TCL脚本控制模块，包括：回读子模块，用于根据所述帧地址执行回读功能，从下位机中获取回读帧数据；码流翻转子模块，用于根据所述位偏移，对所述回读帧数据中的目标配置位进行逻辑翻转，得到翻转帧数据；重配置子模块，用于根据所述帧地址和翻转帧数据执行重配置功能，对下位机进行单粒子翻转故障模拟。
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