[发明专利]LED驱动芯片过压检测电路及方法

摘要

本发明提供一种LED驱动芯片过压检测电路及方法，其中LED驱动芯片过压检测电路包括一检测电路本体，还包括一防过压检测失效模块，所述防过压检测失效模块连接一输入控制信号的第一控制信号输入端、一输入检测电压的检测电压输入端、一输入基准电压的基准电压输入端和所述检测电路本体，其设置为在接收到所述控制信号后，判断所述检测电压是否小于所述基准电压，并在所述检测电压小于所述基准电压时使能所述检测电路本体执行过压检测。本发明的一种LED驱动芯片过压检测电路及方法可有效的避免LED过压检测失效问题，具有准确性高和稳定性强的优点。 1

主权项

1.一种LED驱动芯片过压检测电路，包括一检测电路本体，其特征在于，还包括一防过压检测失效模块，所述防过压检测失效模块连接一输入控制信号的第一控制信号输入端、一输入检测电压的检测电压输入端、一输入基准电压的基准电压输入端和所述检测电路本体，其设置为在接收到所述控制信号后，判断所述检测电压是否小于所述基准电压，并在所述检测电压小于所述基准电压时使能所述检测电路本体执行过压检测，其中所述检测电路本体包括：一第一比较器，所述第一比较器的正相输入端连接所述检测电压输入端，所述第一比较器的反相输入端连接一峰值电流检测阈值输入端；一第一锁存器，所述第一锁存器的第一输入端连接所述第一比较器的输出端；一最小退磁时间产生单元，所述最小退磁时间产生单元的输入端连接所述第一控制信号输入端；一状态判断单元，所述状态判断单元的第一输入端连接一退磁信号输入端，所述状态判断单元的第二输入端连接所述最小退磁时间产生单元的输出端；一最大导通时间产生单元，所述最大导通时间产生单元的输入端连接所述第一控制信号输入端，所述最大导通时间产生单元的输出端连接所述防过压检测失效模块；以及一计数单元，所述计数单元的第一输入端连接所述第一锁存器的输出端；所述计数单元的第二输入端连接所述状态判断单元的第一输出端；所述计数单元的第三输入端连接所述状态判断单元的第二输出端，所述计数单元的第一输出端连接所述第一锁存器的第二输入端，所述计数单元的第二输出端作为过压信号输出端。