[发明专利]基于电学法的键合丝瞬时触碰的检测方法、装置和平台有效
| 申请号： | 201611201597.1 | 申请日： | 2016-12-22 |
| 公开（公告）号： | CN106646195B | 公开（公告）日： | 2019-11-08 |
| 发明（设计）人： | 李勋平;何春华;周斌;尧彬;何小琦 | 申请（专利权）人： | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 黄晓庆 |
| 地址： | 510610 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于电学法的键合丝瞬时触碰的检测方法、装置和平台，该方法包括：将待测集成电路的任意一个管脚配置为高电平，将剩余管脚配置为与高电平相反的低电平；扫描被配置为低电平的各管脚是否发生电平跳变；若扫描到任意一个管脚发生电平跳变，则判定所述待测集成电路发生键合丝触碰短路；输出检测结果。该方法通过捕捉待测集成电路的设定的管脚的电平变化，实现对键合丝触碰短路进行检测，不会发生漏检，并且无需开封获取待测集成电路内部键合丝的连接方式，适应性广。 | ||
| 搜索关键词： | 键合丝 触碰 集成电路 管脚 电平跳变 管脚配置 短路 低电平 电学法 高电平 检测 扫描 电平变化 连接方式 内部键合 输出检测 台本发明 漏检 判定 捕捉 开封 配置 | ||
【主权项】：
1.一种基于电学法的键合丝瞬时触碰的检测方法，其特征在于，包括：基于待测集成电路的数据表确定待测集成电路各管脚的功能，选择合适主频和合适管脚的FPGA作为测试芯片，所述合适主频是指在极限应力测试条件下的峰值停留时间内完成对所述待测集成电路的所有管脚的逐一扫描，所述合适管脚是指管脚数量大于待测集成电路的管脚数量；将待测电路板置于应力测试环境中；将待测集成电路的任意一个管脚配置为第一电平，将剩余管脚配置为与第一电平相反的第二电平；扫描被配置为第二电平的各管脚是否发生电平跳变；所述电平跳变是指被配置为第二电平的管脚的电平信号发生变化；若扫描到任意一个管脚发生电平跳变，则判定所述待测集成电路的键合丝发生瞬时触碰；输出检测结果。
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