[发明专利]一种ET测试的测试架及其制作方法在审
| 申请号： | 201611205021.2 | 申请日： | 2016-12-23 |
| 公开（公告）号： | CN106841978A | 公开（公告）日： | 2017-06-13 |
| 发明（设计）人： | 熊璐;程文君;李世清 | 申请（专利权）人： | 奥士康科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳市兴科达知识产权代理有限公司44260 | 代理人： | 王翀 |
| 地址： | 413000 湖南*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 一种ET测试的测试架及其制作方法，包括两个部分，其一为测试架边框，用于固定在ET测试机上，其二为测试模块，所述测试模块通过底部固定于测试架边框上；所述测试架边框上等距设有一排螺丝孔，这样一个测试架边框可以拼接多种尺寸的测试模块，当一个测试架报废时，测试架边框可以重复利用。利用本发明，可避免由于所测PCB料号尺寸偏小导致测试架制作物料的浪费。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 et 测试 及其 制作方法 | ||
【主权项】：
一种ET测试的测试架，其特征在于：包括两个部分，其一为测试架边框，用于固定在ET测试机上，其二为测试模块，所述测试模块通过底部固定于测试架边框上；所述测试架边框上等距设有一排螺丝孔，这样一个测试架边框可以拼接多种尺寸的测试模块，当一个测试架报废时，测试架边框可以重复利用。
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