[发明专利]一种晶圆定位装置有效
申请号: | 201611205869.5 | 申请日: | 2016-12-23 |
公开(公告)号: | CN106684025B | 公开(公告)日: | 2019-05-14 |
发明(设计)人: | 王铮;李伟;熊朋;姜家宏;费玖海 | 申请(专利权)人: | 北京半导体专用设备研究所(中国电子科技集团公司第四十五研究所) |
主分类号: | H01L21/68 | 分类号: | H01L21/68;H01L21/306 |
代理公司: | 北京中建联合知识产权代理事务所(普通合伙) 11004 | 代理人: | 宋元松;朱丽岩 |
地址: | 100176 北京市大*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种晶圆定位装置,用于边缘接触式载片台晶圆定位,其包括保持环,载片台及承片座,保持环、承片座设置在载片台上的阶梯孔内,承片座上设置有限位块,限位块沿晶圆的圆周均布在承片座上,其限制晶圆水平方向的移动;保持环的下部设置有凹槽,背膜设置在凹槽内;凹槽与承片座位置相对,晶圆固定在承片座与背膜之间。本发明提供的一种晶圆定位装置应用于化学机械抛光技术领域,其结构紧凑,布局合理,有效提高了晶圆固定的可靠性,降低了晶圆碎裂的发生率,保证晶圆精确、可靠的传输,提高晶圆加工的成品率,降低生产成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 定位 装置 | ||
【主权项】:
1.一种晶圆定位装置,用于边缘接触式载片台晶圆定位,其特征在于,包括保持环(1),载片台(3)及承片座(4),保持环(1)、承片座(4)设置在载片台(3)上的阶梯孔内,承片座(4)上设置有限位块(5),限位块(5)沿晶圆(6)的圆周均布在承片座(4)上,其限制晶圆(6)水平方向的移动;保持环(1)的下部设置有凹槽(13),背膜(2)设置在凹槽(13)内;凹槽(13)与承片座(4)位置相对,晶圆(6)固定在承片座(4)与背膜(2)之间;所述限位块(5)包括压盖(11)及弹簧(12),弹簧(12)设置在承片座(4)上的盲孔内,压盖(11)上设置有固定孔,弹簧(12)安装在固定孔内。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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