[发明专利]一种软件测试缺陷预测方法及系统有效
申请号: | 201611207391.X | 申请日: | 2016-12-23 |
公开(公告)号: | CN106708738B | 公开(公告)日: | 2020-02-11 |
发明(设计)人: | 顾静雯 | 申请(专利权)人: | 上海斐讯数据通信技术有限公司 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 33246 浙江千克知识产权代理有限公司 | 代理人: | 周希良 |
地址: | 201616 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及大数据分析提取技术领域,尤其涉及一种用软件测试缺陷预测方法及系统。本发明软件测试缺陷预测方法,包括:数据采集、数据处理、数据分类、数据分析等步骤。基于目前已有的或者可以实时更新的软件项目测试情况的大数据进行数据挖掘,实现对软件测试缺陷的预测方法。数据挖掘是通过从大数据中剥离有效的数据,通过数据清洗、数据分类、从而找到测试缺陷的规律性。 | ||
搜索关键词: | 大数据 测试缺陷 软件测试 数据分类 数据挖掘 发明软件 缺陷预测 软件项目 实时更新 数据采集 数据分析 数据清洗 数据处理 预测 规律性 剥离 测试 分析 | ||
【主权项】:
1.一种软件测试缺陷预测方法,其特征在于,包括:/n步骤S1,数据采集,收集来自多个测试客户端的测试管理数据,获得包含多个测试管理数据的测试管理数据集合;/n步骤S2,数据处理,筛选和预处理所述测试管理数据集合,获得测试特征数据集合;/n步骤S3,数据分类,将所述测试特征数据集合按照分类模式分为不同的数据簇;/n步骤S4,数据分析,查找与输入的待分析软件测试信息匹配的所述数据簇,根据所述数据簇预测待分析软件测试的测试缺陷信息;/n其中,所述测试管理数据至少包括测试项目信息、软件版本信息和测试缺陷信息;所述待分析软件测试信息至少包括测试项目信息和软件版本信息;/n所述测试缺陷信息至少包括缺陷类型信息和缺陷数量信息;所述缺陷类型信息用于表示缺陷的严重程度,所述缺陷数量信息与所述缺陷类型信息一一对应;/n所述测试项目信息,至少包括项目类型信息、测试人员信息、开发人员信息、测试开始时间信息、测试结束时间信息;/n所述软件版本信息,至少包括主版本号信息、子版本号信息;/n所述步骤S2进一步包括:/n步骤S201,数据筛选,包括从所述测试管理数据集合中挑选出能够提取出特征参数的数据,组成有效测试数据集合;/n步骤S202,数据预处理,包括提取所述有效测试数据集合中的测试管理数据的特征参数,组成测试特征数据集合;/n所述步骤S3进一步包括:/n步骤S301,初次分类,将所述测试特征数据集合中的特征数据分为不同的数据簇;/n步骤S302,再次分类,将各所述数据簇中的特征数据分为不同的子数据簇;/n步骤S303,均值计算,计算各所述子数据簇的平均测试缺陷信息。/n
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