[发明专利]一种基于单层钛酸锶钡薄膜的电荷俘获型存储器及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201611209244.6 申请日: 2016-12-23
公开(公告)号: CN106783863B 公开(公告)日: 2020-03-31
发明(设计)人: 闫小兵;张园园;赵建辉;周振宇 申请(专利权)人: 河北大学
主分类号: H01L27/115 分类号: H01L27/115
代理公司: 石家庄国域专利商标事务所有限公司 13112 代理人: 白利霞;苏艳肃
地址: 071002 河北*** 国省代码: 河北;13
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摘要: 发明公开了一种基于单层钛酸锶钡(BST)薄膜的电荷俘获型存储器,其结构由下而上依次是P型Si衬底、SiO2隧穿层、钛酸锶钡俘获阻挡层以及Pd电极层。同时,还公开了该存储器的制备方法,将P型Si衬底洗净吹干,通过磁控溅射的方法在Si衬底上形成钛酸锶钡俘获阻挡层,通过特定的退火工艺在P型Si衬底和钛酸锶钡俘获阻挡层之间形成了SiO2隧穿层,再通过磁控溅射的方法在钛酸锶钡俘获阻挡层上形成了Pd电极层。本发明通过特定材料和方法制备了p‑Si衬底/SiO2隧穿层/钛酸锶钡俘获阻挡层/Pd电极层复合结构的电荷俘获型存储器。通过检测表明,本发明提供的存储器与现有同类型的存储器相比,其存储窗口更大、数据保持性更好,是一种抗疲劳、写入/擦除速率快、应用前景更为广阔的存储器。
搜索关键词: 一种 基于 单层 钛酸锶钡 薄膜 电荷 俘获 存储器 及其 制备 方法
【主权项】:
一种基于单层钛酸锶钡薄膜的电荷俘获型存储器,其特征在于,其结构由下而上依次是P型Si衬底、SiO2隧穿层、钛酸锶钡俘获阻挡层以及Pd电极层。
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