[发明专利]一种柔性阻变存储器及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201611209270.9 申请日: 2016-12-23
公开(公告)号: CN106449973B 公开(公告)日: 2019-07-16
发明(设计)人: 闫小兵;周振宇;赵建辉;王宏 申请(专利权)人: 河北大学
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00;C23C14/35;C23C14/08;C23C14/06;C23C14/04
代理公司: 石家庄国域专利商标事务所有限公司 13112 代理人: 白利霞;苏艳肃
地址: 071002 河北*** 国省代码: 河北;13
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摘要: 发明公开了一种柔性阻变存储器,其结构从下到上依次为:云母柔性衬底、InGaZnO底电极膜层、ZrHfO介质膜层和TiN顶电极膜层。还公开该阻变存储器的制备方法:以一定厚度的云母材料作为柔性衬底,通过磁控溅射的方法在柔性衬底上依次形成InGaZnO底电极膜层、ZrHfO介质膜层和TiN顶电极膜层。本发明提供的柔性阻变存储器具有结构简单、衬底新颖独特、体积小、易弯曲、读写快、耐高温、耐腐蚀、抗弯曲性强等良好性能,是一种存储性能稳定、成本低、密度高、操作速度快、功耗低、抗疲劳性强、应用前景广阔的柔性阻变存储器,适于在各种电子设备中推广使用。
搜索关键词: 一种 柔性 存储器 及其 制备 方法
【主权项】:
1.一种柔性阻变存储器,其特征在于,其结构从下到上依次为:云母柔性衬底、InGaZnO底电极膜层、ZrHfO介质膜层和TiN顶电极膜层;所述ZrHfO介质膜层的厚度为3~8nm;所述InGaZnO底电极膜层的厚度为60~190nm;所述TiN顶电极膜层的厚度为40nm~150nm;所述云母柔性衬底的厚度为0.01~0.04mm。
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