[发明专利]具有核-壳结构的Ga掺杂的InP量子点及其制备方法有效
申请号: | 201611213969.2 | 申请日: | 2016-12-23 |
公开(公告)号: | CN108239535B | 公开(公告)日: | 2021-10-22 |
发明(设计)人: | 张卫;张超;王允军 | 申请(专利权)人: | 苏州星烁纳米科技有限公司 |
主分类号: | C09K11/88 | 分类号: | C09K11/88;C09K11/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215123 江苏省苏州市工业*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: |
本发明提供了一种具有核‑壳结构的Ga掺杂的InP量子点及其制备方法。该量子点包括InP纳米晶核、Ga掺杂的InGaP纳米晶中间层以及壳层,Ga掺杂的InGaP纳米晶中间层的组成为In |
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搜索关键词: | 具有 结构 ga 掺杂 inp 量子 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
1.一种具有核‑壳结构的Ga掺杂的InP量子点,其特征在于,包括InP纳米晶核、Ga掺杂的InGaP纳米晶中间层以及壳层;所述Ga掺杂的InGaP纳米晶中间层的组成为InxGayP,所述壳层为ZnSezS1‑z,其中,1≤x/y≤9,0≤z≤1。
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