[发明专利]具有核-壳结构的Ga掺杂的InP量子点及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201611213969.2 申请日: 2016-12-23
公开(公告)号: CN108239535B 公开(公告)日: 2021-10-22
发明(设计)人: 张卫;张超;王允军 申请(专利权)人: 苏州星烁纳米科技有限公司
主分类号: C09K11/88 分类号: C09K11/88;C09K11/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215123 江苏省苏州市工业*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供了一种具有核‑壳结构的Ga掺杂的InP量子点及其制备方法。该量子点包括InP纳米晶核、Ga掺杂的InGaP纳米晶中间层以及壳层,Ga掺杂的InGaP纳米晶中间层的组成为InxGayP,壳层为ZnSezS1‑z,其中,1≤x/y≤9,0≤z≤1。该量子点的荧光发射波长在610‑780nm内连续可调,且粒径均匀,其发射峰半峰宽较同波长的单纯InP量子点的明显要小。本发明以PH3为磷源,通过在纳米晶核和壳层之间形成Ga掺杂的InGaP纳米晶中间层,缓解了InP量子点因晶格错配带来的缺陷,具有成本低、环保、操作简单的特点,可广泛应用于照明、显示等领域。
搜索关键词: 具有 结构 ga 掺杂 inp 量子 及其 制备 方法
【主权项】:
1.一种具有核‑壳结构的Ga掺杂的InP量子点,其特征在于,包括InP纳米晶核、Ga掺杂的InGaP纳米晶中间层以及壳层;所述Ga掺杂的InGaP纳米晶中间层的组成为InxGayP,所述壳层为ZnSezS1‑z,其中,1≤x/y≤9,0≤z≤1。
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