[发明专利]一种成像光谱仪定标位置修正的方法及装置有效
| 申请号： | 201611217915.3 | 申请日： | 2016-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN106769909B | 公开（公告）日： | 2019-07-09 |
| 发明（设计）人： | 崔继承;王明佳;朱继伟;姚雪峰;潘明忠 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01N21/27 | 分类号： | G01N21/27 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 罗满 |
| 地址： | 130033 吉林省长春*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种成像光谱仪定标位置修正的方法，分别根据图像处理方法与光学理论设计方法计算出多个定标波长各自对应在成像光谱仪成像图中的光斑实际位置与光斑理论位置；然后根据计算出各光斑实际位置与相应的光斑理论位置的偏差对谱图矩阵中相应波长对应的位置进行调整，以完成对成像光谱仪定标位置的修正。本申请提供的技术方案通过在线检测光学理论设计造成的定标偏差，获得准确度高的谱图矩阵，提高了成像光谱仪定标谱图矩阵的精度，输出了高精度的光谱，提高了成像光谱仪系统精度以及测量精度。此外，本发明实施例还提供了相应的实现装置，进一步使得所述方法更具有实用性，所述装置具有相应的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 成像光谱仪 定标 光斑 矩阵 光学理论 理论位置 实际位置 位置修正 波长 实现装置 图像处理 在线检测 准确度 成像图 光谱 测量 修正 输出 申请 | ||
【主权项】：
1.一种成像光谱仪定标位置修正的方法，其特征在于，包括：根据图像处理方法分别计算预设个数的定标波长对应在成像光谱仪成像图中的光斑实际位置；根据光学理论设计方法分别计算各所述定标波长对应在成像光谱仪成像图中的光斑理论位置；计算各所述光斑实际位置与相应的光斑理论位置的偏差，并根据各所述偏差调整成像光谱仪谱图矩阵中相应波长对应的位置，以完成对成像光谱仪定标位置的修正；当所述预设个数为5个时，所述根据当前波长与各所述定标波长的关系以及各所述偏差对成像光谱仪谱图矩阵中各非定波波长的波长对应的位置进行修正为：根据下述公式所得的平移量对成像光谱仪谱图矩阵中各所述非定波波长的波长对应的位置在x方向进行平移，以完成对成像光谱仪谱图矩阵中各所述非定波波长的波长对应的位置的修正：![]()
式中，a、b、c、d、e分别为各所述定标波长在成像光谱仪谱图矩阵上x方向上对应的位置值，Δa、Δb、Δc、Δd、Δe分别为各所述定标波长的光斑实际位置与相应的光斑理论位置在x方向上的偏差，x为所述当前波长在成像光谱仪谱图矩阵上x方向上对应的位置值。
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