[发明专利]一种纱线粗细不匀的分析方法及装置有效
申请号: | 201611219643.0 | 申请日: | 2016-12-26 |
公开(公告)号: | CN106680468B | 公开(公告)日: | 2019-03-29 |
发明(设计)人: | 韦德怀;杨俊海;冯亚民;张卫平;冯宝华 | 申请(专利权)人: | 江苏圣蓝科技有限公司 |
主分类号: | G01N33/36 | 分类号: | G01N33/36 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 张弘 |
地址: | 225700 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明提供了一种纱线粗细不匀的分析方法及装置,具体为获取纱线实际线密度分布图,并与其理论线密度分布图比较,得出纱线的线密度偏移率,并根据线密度偏移率监控和分析纱线粗细不匀情况。该方法是一种定量分析纱线粗细不匀方法。该方法处理速度快,得到的线密度偏移率及图像对比结果,可以直观的判断纱线的粗细不匀情况,并以此指导生产、预测布面。特别是该方法可以精准、定量的进行分析纱线的粗细不匀情况。 | ||
搜索关键词: | 一种 纱线 粗细 分析 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种纱线粗细不匀的分析方法,其特征在于,包括:获取纱线实际线密度分布图,并与其理想线密度分布图比较,得出纱线的线密度偏移率,并根据线密度偏移率监控和分析纱线粗细不匀情况;具体包括以下步骤:1)纱线经过条干均匀度测试仪的测试,输出纱线变异系数CVm、纱线平均线密度和实际线密度分布图;2)根据以下公式计算理想线密度分布图:其中,x为纱线线密度,为纱线平均线密度,CVm为纱线变异系数,α为偏移平均线密度变化率,s为纱线标准偏差;3)在条干均匀度测试仪实际的线密度分布图上绘制对应纱线的理想线密度分布图;4)在实际线密度分布图上标注超出理想线密度分布图部分;5)得到超出理想线密度分布图部分的线密度偏移率;6)根据线密度偏移率监控和分析纱线粗细不匀情况;所述的线密度偏移率为理想线密度分布图与实际线密度分布图面积之差;实际线密度分布图计算公式为:其中,为N总的采样点数,ni为电压值为i时的采样点数,Ai为该电压下的线密度频率。
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