[发明专利]一种尺寸测量系统有效

专利信息
申请号: 201611219848.9 申请日: 2016-12-26
公开(公告)号: CN106441104B 公开(公告)日: 2019-02-01
发明(设计)人: 王宇庆;刘培勋;杨航 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 王宝筠
地址: 130033 吉林省长春*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 发明提供一种尺寸测量系统,通过计算机根据接收的触发信号,控制轮廓相机与深度相机进行图像采集,并将图像采集的结果与预存图像模型进行匹配和调整;再根据接收的尺寸要求,在图像采集的结果中自动识别测量点,计算得到尺寸测量结果;该系统基于计算机的上述图像处理和控制测量过程,能够实现自动化和智能化的快速尺寸测量,解决了现有技术的问题。
搜索关键词: 一种 尺寸 测量 系统
【主权项】:
1.一种尺寸测量系统,其特征在于,包括:轮廓相机、深度相机、电控平移台、第一控制器、计算机及固定件;其中:所述计算机通过所述第一控制器与所述电控平移台相连;所述电控平移台用于放置被测物体;所述固定件用于固定所述轮廓相机垂直于所述电控平移台;所述轮廓相机与所述深度相机均与所述计算机相连;所述计算机用于根据接收的触发信号,控制所述轮廓相机与所述深度相机进行图像采集,将图像采集的结果与预存图像模型进行位置匹配;若图像采集的结果与预存图像模型中的相应位置存在误差,则对当前的坐标进行校正,得到校正坐标下的图像采集结果,作为调整后的图像采集的结果;再根据接收的尺寸要求,在调整后的图像采集的结果中自动识别测量点,计算得到尺寸测量结果。
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