[发明专利]应用测试方法、装置及电子设备在审
| 申请号： | 201611220491.6 | 申请日： | 2016-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN106776330A | 公开（公告）日： | 2017-05-31 |
| 发明（设计）人： | 孙健;郭晓霞 | 申请（专利权）人： | 北京金山安全软件有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)11201 | 代理人： | 张润 |
| 地址： | 100085 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请提出一种应用测试方法、装置及电子设备，其中，该方法包括首先获取配置文件，然后记录终端当前时刻的第一电量值及第一CPU占用量，在控制目标应用执行测试指令后，再记录终端的第二电量值及第二CPU占用量，然后再根据第一电量值、第一CPU占用量、第二电量值及第二CPU占用量，确定所述目标应用中与所述测试指令对应的功能的性能。通过本申请提供的应用测试方法、装置及电子设备，利用实际安装了目标应用的终端完成了对目标应用性能的测试，测试过程与目标应用的使用环境一致，且无需对目标应用的程序文件进行额外定义，测试过程简单，易实现，且测试结果准确可靠。 | ||
| 搜索关键词： | 应用 测试 方法 装置 电子设备 | ||
【主权项】：
一种应用测试方法，其特征在于，包括以下步骤：在确定与终端建立无线连接后，获取配置文件，所述配置文件中包括目标应用的标识及测试指令；记录所述终端当前时刻的第一电量值及第一CPU占用量；控制与所述目标应用的标识对应的目标应用执行所述测试指令；记录所述终端执行所述测试指令后的第二电量值及第二CPU占用量；根据所述第一电量值、第一CPU占用量、第二电量值及第二CPU占用量，确定所述目标应用中与所述测试指令对应的功能的性能。
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