[发明专利]WC‑Co硬质合金中两种钴相的分析检测方法在审
申请号: | 201611221302.7 | 申请日: | 2016-12-26 |
公开(公告)号: | CN106596616A | 公开(公告)日: | 2017-04-26 |
发明(设计)人: | 谢晨辉;谭立群;彭宇;周华堂;卢静;周梦倩 | 申请(专利权)人: | 株洲硬质合金集团有限公司 |
主分类号: | G01N23/225 | 分类号: | G01N23/225;G01N1/32 |
代理公司: | 长沙永星专利商标事务所(普通合伙)43001 | 代理人: | 周咏 |
地址: | 412000 湖*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | 本发明公开了一种WC‑Co硬质合金中两种钴相的分析检测方法,依次包括离子束抛光法制样;放入扫描电镜样品台上,设置工作参数,选择要分析的区域对图像进行聚焦、消像散及倾斜校正,获取清晰的待分析区域的图像;EBSD软件中导入需要标定的物相晶体学数据;设置EBSD探头位置进行图像采集,漂移校正;花样优化、静态背底扣除;设置图像分辨率进行数据采集;输出相统计数据和EBSD分层图像,通过颜色区分不同的物相;根据EBSD识别的相点由软件计算出的面积百分含量ωWC、ωα_Co、ωε_Co,进而计算α_Co、ε_Co在粘结相中的质量分数;本发明既能分析两种钴相的相结构,同时可以获得两种钴相的分布状态。 | ||
搜索关键词: | wc co 硬质合金 中两种钴相 分析 检测 方法 | ||
【主权项】:
WC‑Co硬质合金中两种钴相的分析检测方法,依次包括:(一)采用离子束抛光法制备样品;(二)将制备好的样品放入扫描电镜样品台上,设置扫描电镜工作参数,选择要分析的区域对图像进行聚焦、消像散及倾斜校正,获取清晰的待分析区域的图像;(三)EBSD软件中导入需要标定的物相晶体学数据;(四)在EBSD控制软件中设置EBSD探头位置为175~181mm,进行图像采集,漂移校正;(五)图像采集完成后进行花样优化,通过相机参数设置,对花样进行静态背底扣除;(六)设置图像分辨率:像素合并模式、采集步长,对感兴趣区域进行数据采集;(七)输出相统计数据和EBSD分层图像,通过颜色区分不同的物相;(八)计算两种钴相的相对含量:根据EBSD识别的相点由软件计算出的面积百分含量ωWC、ωα_Co、ωε_Co,α_Co在粘结相中的质量分数为:ε_Co在粘结相中的质量分数为:Wε_Co=1‑Wα_Co。
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