[发明专利]一种光栅平行性检测装置有效

专利信息
申请号: 201611221909.5 申请日: 2016-12-27
公开(公告)号: CN106895798B 公开(公告)日: 2019-03-22
发明(设计)人: 张雪鹏;王慧利;蔺春波 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01B11/26 分类号: G01B11/26
代理公司: 长春众邦菁华知识产权代理有限公司 22214 代理人: 张伟
地址: 130033 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 一种光栅平行性检测装置属于光栅测量技术领域,目的在于解决现有技术存在的当光栅面积较小、间距较小时现有技术不便检测以及造成摩擦划伤的问题。本发明包括平行光源、反射镜组、透镜组、镜座、多路镜筒和相机;所述透镜组固定在镜座上,透镜组位于反射镜组下方,多路镜筒位于镜座下方,相机位于多路镜筒下方;待检测的光栅B为系统基准,待检测的光栅A置于光栅B的上方,平行光管位于光栅A和光栅B整体的下方,平行光源发出的光经光栅A和光栅B反射后再经反射镜组反射,经反射镜组反射的光线分别经透镜组透射后经多路镜筒成像在相机上。有效的解决了光栅尺装调环境中一对光栅平行性检测的问题,尤其解决了尺寸较小的一对光栅的平行性检测问题。
搜索关键词: 一种 光栅 平行 检测 装置
【主权项】:
1.一种光栅平行性检测装置,其特征在于,包括平行光源(1)、反射镜组(4)、透镜组(5)、镜座(6)、多路镜筒(7)和相机(8);所述透镜组(5)固定在镜座(6)上,透镜组(5)位于反射镜组(4)下方,多路镜筒(7)位于镜座(6)下方,相机(8)位于多路镜筒(7)下方;待检测的光栅B(2)为系统基准,待检测的光栅A(3)置于光栅B(2)的上方,平行光管位于光栅A(3)和光栅B(2)整体的下方,平行光源(1)发出的光经光栅A(3)和光栅B(2)反射后再经反射镜组(4)反射,经反射镜组(4)反射的光线分别经透镜组(5)透射后经多路镜筒(7)成像在相机(8)上;通过平行光源(1)作为初始光源,经待检测的光栅A(3)和光栅B(2)反射的光线经反射镜组(4)和透镜组(5)形成四路光线,把经光栅A(3)和光栅B(2)反射下来的光分成四个区域,并在相机(8)上成像,实现对光栅A(3)和光栅B(2)平行性的检测。
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