[发明专利]粒子检测传感器在审
申请号: | 201611222497.7 | 申请日: | 2016-12-27 |
公开(公告)号: | CN107036940A | 公开(公告)日: | 2017-08-11 |
发明(设计)人: | 松浪弘贵;林真太郎;北冈信一 | 申请(专利权)人: | 松下知识产权经营株式会社 |
主分类号: | G01N15/00 | 分类号: | G01N15/00;G01N15/02;G01N15/06 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司72002 | 代理人: | 安香子,黄剑锋 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 提供一种粒子检测传感器,既成本低又能抑制因投光元件的温度而出现的光输出的变化导致的检测精度不均。该粒子检测传感器具备投光元件(10),向检测区域DA射出光;受光元件(20),接受散射光,该散射光是来自投光元件(10)的光因检测区域DA的粒子而散射的光;第一支承部件(81a),支承受光元件(20);以及第二支承部件(81b),支承投光元件(10),该第二支承部件(81b)的线性膨胀系数与第一支承部件(81a)不同,第一支承部件(81a)具有用于设置受光元件(20)的第一设置部(81a1)、以及用于设置第二支承部件(81b)的第二设置部(81a2),第一设置部(81a1)和第二设置部(81a2),被设置在与投光元件(10)的光轴J1或者受光元件(20)的光轴J2之间的距离不同的位置。 | ||
搜索关键词: | 粒子 检测 传感器 | ||
【主权项】:
一种粒子检测传感器,具备:投光元件,向检测区域射出光;受光元件,接受散射光,该散射光是来自所述投光元件的光因所述检测区域的粒子而散射的光;第一支承部件,支承所述受光元件;以及第二支承部件,支承所述投光元件,所述第二支承部件的线性膨胀系数与所述第一支承部件不同,所述第一支承部件具有用于设置所述受光元件的第一设置部、以及用于设置所述第二支承部件的第二设置部,所述第一设置部和所述第二设置部,被设置在与所述投光元件的光轴或者所述受光元件的光轴之间的距离不同的位置。
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