[发明专利]生长在玻璃衬底上的LED外延片及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201611226923.4 申请日: 2016-12-27
公开(公告)号: CN106784224B 公开(公告)日: 2019-01-29
发明(设计)人: 李国强;高芳亮;王文樑 申请(专利权)人: 华南理工大学
主分类号: H01L33/22 分类号: H01L33/22;H01L33/12;H01L33/00
代理公司: 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 代理人: 陈文姬
地址: 510640 广*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了生长在玻璃衬底上的LED外延片,包括生长在玻璃衬底上的铝金属层,生长在铝金属层上的银金属层,生长在银金属层上的AlN缓冲层,生长在AlN缓冲层上的GaN缓冲层,生长在GaN缓冲层上的非掺杂GaN层,生长在非掺杂GaN层上的n型掺杂GaN薄膜,生长在n型掺杂GaN薄膜上的InGaN/GaN多量子阱,生长在InGaN/GaN多量子阱上的p型掺杂GaN薄膜。本发明还公开了上述生长在玻璃衬底上的LED外延片的制备方法。本发明的生长在玻璃衬底上的LED外延片具有缺陷密度低、结晶质量好,发光性能优良的优点。
搜索关键词: 生长 玻璃 衬底 led 外延 及其 制备 方法
【主权项】:
1.生长在玻璃衬底上的LED外延片的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)玻璃衬底表面抛光、清洗;(2)铝金属层的生长:在分子束外延系统中,在衬底温度为400~600℃条件下,沉积铝金属层;(3)银金属层的生长:在分子束外延系统中,采用分子束外延系统中的电子束蒸发功能,在衬底温度为400~600℃条件下,沉积的银金属层;(4)AlN缓冲层的生长:衬底温度调为450~550℃,在反应室的压力为4.0~7.2×10‑5Pa、生长速度为0.2~0.8ML/s的条件下沉积金属铝薄膜,然后采用氮等离体子源对该金属铝薄膜进行氮化,等离体子源的功率为300~450W,氮气流量为1~5sccm,氮化时间为10~50分钟,获得AlN薄膜;(5)GaN缓冲层外延生长:衬底温度调为450~550℃,在反应室的压力为6.0~7.2×10‑5Pa、束流比V/III值为50~60、生长速度为0.4~0.6ML/s的条件下生长GaN缓冲层;(6)非掺杂GaN层的外延生长:采用分子束外延生长工艺,衬底温度为500~600℃,在反应室的压力为4.0~5.0×10‑5Pa、束流比V/III值为30~40、生长速度为0.6~0.8ML/s条件下,在步骤(4)得到的GaN缓冲层上生长非掺杂GaN;(7)n型掺杂GaN薄膜的外延生长:采用分子束外延生长工艺,将衬底温度升至650~750℃,在反应室压力为5.0~6.0×10‑5Pa、束流比V/III值为40~50、生长速度为0.6~0.8ML/s条件下,在非掺杂GaN层上生长n型掺杂GaN薄膜;(8)InGaN/GaN多量子阱的外延生长:采用分子束外延生长工艺,生长温度为750~850℃,在反应室的压力为4.0~5.0×10‑5Pa、束流比V/III值为30~40、生长速度为0.4~0.6ML/s条件下,在n型掺杂GaN薄膜上生长InGaN/GaN多量子阱;(9)p型掺杂GaN薄膜的外延生长:采用分子束外延生长工艺,将衬底温度调至650~750℃,反应室的压力5.0~6.0×10‑5Pa、束流比V/III值30~40、生长速度0.6~0.8ML/s条件下,在InGaN/GaN多量子阱上生长p型掺杂GaN薄膜。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华南理工大学,未经华南理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201611226923.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top