[发明专利]生长在玻璃衬底上的LED外延片及其制备方法有效
申请号: | 201611226923.4 | 申请日: | 2016-12-27 |
公开(公告)号: | CN106784224B | 公开(公告)日: | 2019-01-29 |
发明(设计)人: | 李国强;高芳亮;王文樑 | 申请(专利权)人: | 华南理工大学 |
主分类号: | H01L33/22 | 分类号: | H01L33/22;H01L33/12;H01L33/00 |
代理公司: | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人: | 陈文姬 |
地址: | 510640 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了生长在玻璃衬底上的LED外延片,包括生长在玻璃衬底上的铝金属层,生长在铝金属层上的银金属层,生长在银金属层上的AlN缓冲层,生长在AlN缓冲层上的GaN缓冲层,生长在GaN缓冲层上的非掺杂GaN层,生长在非掺杂GaN层上的n型掺杂GaN薄膜,生长在n型掺杂GaN薄膜上的InGaN/GaN多量子阱,生长在InGaN/GaN多量子阱上的p型掺杂GaN薄膜。本发明还公开了上述生长在玻璃衬底上的LED外延片的制备方法。本发明的生长在玻璃衬底上的LED外延片具有缺陷密度低、结晶质量好,发光性能优良的优点。 | ||
搜索关键词: | 生长 玻璃 衬底 led 外延 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
1.生长在玻璃衬底上的LED外延片的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)玻璃衬底表面抛光、清洗;(2)铝金属层的生长:在分子束外延系统中,在衬底温度为400~600℃条件下,沉积铝金属层;(3)银金属层的生长:在分子束外延系统中,采用分子束外延系统中的电子束蒸发功能,在衬底温度为400~600℃条件下,沉积的银金属层;(4)AlN缓冲层的生长:衬底温度调为450~550℃,在反应室的压力为4.0~7.2×10‑5Pa、生长速度为0.2~0.8ML/s的条件下沉积金属铝薄膜,然后采用氮等离体子源对该金属铝薄膜进行氮化,等离体子源的功率为300~450W,氮气流量为1~5sccm,氮化时间为10~50分钟,获得AlN薄膜;(5)GaN缓冲层外延生长:衬底温度调为450~550℃,在反应室的压力为6.0~7.2×10‑5Pa、束流比V/III值为50~60、生长速度为0.4~0.6ML/s的条件下生长GaN缓冲层;(6)非掺杂GaN层的外延生长:采用分子束外延生长工艺,衬底温度为500~600℃,在反应室的压力为4.0~5.0×10‑5Pa、束流比V/III值为30~40、生长速度为0.6~0.8ML/s条件下,在步骤(4)得到的GaN缓冲层上生长非掺杂GaN;(7)n型掺杂GaN薄膜的外延生长:采用分子束外延生长工艺,将衬底温度升至650~750℃,在反应室压力为5.0~6.0×10‑5Pa、束流比V/III值为40~50、生长速度为0.6~0.8ML/s条件下,在非掺杂GaN层上生长n型掺杂GaN薄膜;(8)InGaN/GaN多量子阱的外延生长:采用分子束外延生长工艺,生长温度为750~850℃,在反应室的压力为4.0~5.0×10‑5Pa、束流比V/III值为30~40、生长速度为0.4~0.6ML/s条件下,在n型掺杂GaN薄膜上生长InGaN/GaN多量子阱;(9)p型掺杂GaN薄膜的外延生长:采用分子束外延生长工艺,将衬底温度调至650~750℃,反应室的压力5.0~6.0×10‑5Pa、束流比V/III值30~40、生长速度0.6~0.8ML/s条件下,在InGaN/GaN多量子阱上生长p型掺杂GaN薄膜。
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